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数字电子实验指导书
目录
一、基础实验部分
实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试
实验二集成逻辑门电路的参数测试
实验三组合逻辑电路的实验分析
实验四数据选择器
实验五触发器的功能及应用
实验六计数器的功能及应用
实验七中规模集成计数器的应用
实验八计数、译码、显示综合实验
实验九利用TTL集成逻辑门构成脉冲电路
实验十555时基电路
二、设计性实验部分
实验一熟悉实验系统-门电路逻辑功能验证
实验二组合逻辑数字电路设计
实验三时序逻辑数字电路设计
基础实验部分
实验一集成逻辑门电路逻辑功能的测试
一、实验目的
1、熟悉数字逻辑实验箱的结构、基本功能和使用方法。
2、掌握常用非门、与非门、或非门、与或非门、异或门的逻辑功能及其测试方法。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱1台
2、万用表1只
3、元器件：74LS0074LS0474LS5574LS86各一块
导线若干
三、实验内容
1、测试74LS04（六非门）的逻辑功能
将74LS04正确接入面包板，注意识别1脚位置（集成块正面放置且缺口向左，则左下角为1脚）重点讲解，按表1-1要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为
表1-174LS04逻辑功能测试表
1A
1Y
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2、测试74LS00（四2输入端与非门）逻辑功能
将74LS00正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-2要求输入高、低电平信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为
表1-274LS00逻辑功能测试表
1A
1B
1Y
2A
2B
2Y
3A
3B
3Y
4A
4B
4Y
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3、测试74LS55（二路四输入与或非门）逻辑功能
将74LS55正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-3要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平，填入表中。（表中仅列出供抽验逻辑功能用的部分数据）
表1-374LS55部分逻辑功能测试表
A
B
C
D
E
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G
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Y
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本器件的逻辑表达式应为：Y=,与实侧值相比较，功能正确。
4、测试74LS86（四异或门）逻辑功能
将74LS86正确接入面包板，注意识别1脚位置，按表1-4要求输入信号，测出相应的输出逻辑电平。得表达式为Y=A⊕B
表1-474LS86逻辑功能测试表
1A
1B
1Y
2A
2B
2Y
3A
3B
3Y
4A
4B
4Y
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四、实验结果分析（回答问题）
若测试74LS55的全部数据，所列测试表应有256种输入取值组合。
用实验箱、万用表作一个实验示范，并强调测试方法及万用表的用法。
实验二集成逻辑门电路的参数测试
一、实验目的
掌握TTL和CMOS与非门主要参数的意义及测试方法。
进一步熟悉数字逻辑实验箱的基本功能和使用方法。
二、实验仪器及设备
1、数字逻辑实验箱1台
2、万用表2只
3、元器件：74LS20（T063）、CC4012各一块，2CK114只
电阻及导线若干
三、实验内容（简单实验步骤、实验数据及波形）
1、TTL与非门74LS20静态参数测试
导通电源电流ICCL和截止电源电流ICCH
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