T_CSTM 00909-2023 介质基板介电常数和介质损耗角正切测试方法(1MHz~1GHz)平行板电容法.docxVIP

ICS31.180

CCSL30

团体标准

T/CSTM00909—2023

介质基板介电常数和介质损耗角正切测试方法

（1MHz~1GHz）平行板电容法

Testmethodfordielectricconstantanddielectriclosstangentofdielectric

substrate(1MHz~1GHz)-Parallelplatecapacitancemethod

2023-01-13发布2023-04-13实施

中关村材料试验技术联盟发布

T/CSTM00909—2023

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目次

前言 2

引言 3

1范围 5

2规范性引用文件 5

3术语和定义 5

4符号和缩略语 5

5原理 6

6环境条件 6

7仪器设备 6

8样品 6

9试验步骤 7

9.1样品预处理 7

9.2仪器校正 7

9.3夹具校准 7

9.4测试步骤 7

10计算 7

10.1介电常数计算 8

10.2介质损耗角正切值计算 8

11系统误差 8

12注意事项 8

13试验报告 9

附录A（资料性）空气缝隙的影响 10

附录B（资料性）起草单位和主要起草人 11

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前言

本文件参照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》，GB/T20001.4—2015《标准编写规则第4部分：试验方法标准》的规定起草。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）提出。

本文件由中国材料与试验标准化委员会电子材料标准化领域委员会（CSTM/FC51）归口。

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引言

介电常数和介质损耗角正切是介质基板的关键性能，直接影响着PCB电路的整体设计与性能。因此，非常有必要建立准确测量介质基板介电常数和介质损耗角正切的标准方法。

本文件规定了1MHz~1GHz范围内的介电常数和介质损耗角正切的测试方法。本文件对比了国内外现有标准，a）根据目前市场普遍使用的测试设备和夹具情况，对平板电容测试夹具适用频段范围进行了修订；b）通过细化测试步骤提高了测试的一致性和可重复性；c）详细描述了在试验过程中影响试验结果的注意事项。

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介质基板介电常数和介质损耗角正切测试方法（1MHz~1GHz）平行

板电容法

重要提示:使用本文件的人员应有正规实验室工作的实践经验。本文件并未指出所有可能的安全问题。使用者有责任采取适当的安全和健康措施，并保证符合国家有关法规规定的条件。

1范围

本文件规定了采用接触电极平行板电容法测试介质基板的介电常数和介质损耗角正切的符号和缩略语、原理、环境条件、仪器设备、样品、试验步骤、计算、系统误差、注意事项和试样报告。

本文件适用于介质基板及类似介电材料的介电常数和介质损耗角正切测试方法，不适用于测量低损耗材料。

频率测试范围：f=1MHz~1GHz；

介电常数测试范围：ε=1.0~35.0；

损耗角正切值测试范围：tanδε=5.0×10一3~5.0×10一2。

2规范性引用文件

下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T2036印制板电路术语

3术语和定义

GB/T2036界定的术语和定义适用于本文件。

3.1

介电常数dielectricconstant

规定形状电极之间填充电介质获得的电容量与相同电极之间为真空时的电容量之比。

[来源：GB/T2036-1994，6.3.6]3.2

介质损耗角正切dielectricdissipationfactor

对电介质施加正弦波电压时，通过介质的电流相量超前于电压相量间的相角的余角称为损耗角，对该损耗角取正切函数值，即为介质损耗角正切值，也称为损耗因数。

[来源：GB/T2036-1994，6.3.7，有修改]

4符号和缩略语

下列符号和缩略语适用于本文件。

ε0：