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连续多次高压氧对新生大鼠缺氧缺血脑损伤脑皮质细胞线粒体膜电势的影响及机制探究
一、引言
1.1研究背景
新生儿缺氧缺血脑损伤（Hypoxic-ischemicBrainDamage，HIBD）是指围生期窒息导致脑的缺氧缺血性损害，是新生儿致残和致死的重要原因之一，严重威胁新生儿的生命健康和生存质量。在我国，新生儿缺氧缺血性脑病的发生率为3‰-6‰，其中15%-20％在新生儿期死亡，存活者中约20%-30％可能遗留不同程度的神经系统后遗症，如运动或者智力发育障碍、脑性瘫痪、癫痫等。
线粒体作为细胞的能量代谢中心，在HIBD的病理生理过程中扮演着关键角色。线粒体膜电势
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