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有关真空断路器的械特性问题--第1页
有关真空断路器的机械特性问题
有关真空断路器的械特性问题--第1页
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1引言
真空断路器的主要特点在于利用真空作为触头间的绝缘与灭弧介质,由于触头为对接式结构,使得其
机械特性参数与其它结构(如插入式)不同。真空断路器的机械特性表现为动触头相对于静触头的运动特
性。笔者通过对真空断路器机械参数的试验和分析,对传统分析、测试方法进行探讨,对机械参数在设计、
使用、测试等方面存在的问题提出看法。
2测试系统简图
以12kv真空断路器为例分析真空断路器的机械特性,图1为系统简图。测试是针对动导电杆下端点A
相对于灭弧室静端面的运动特性。传感器是基于霍耳效应的线性传感器,采用XBT型进口测试仪。
3触头开距
触头开距是指分闸位置时,开关一极的各触头间或其连接的任何导电部分之间的总间隙[1]。
真空断路器的触头开距取决于额定电压、分断性质、耐压水平及寿命要求。为提高绝缘水平,应适当
增大触头开距;为适应频繁操作,提高真空断路器的寿命,应减小触头开距。真空灭弧室的机械寿命主要
取决于波纹管,波纹管是真空灭弧室中最薄弱的元件。理论分析表明,波纹管的疲劳寿命与压缩行程的35
次幂成正比[2]。显然,减小压缩行程对提高波纹管的机械寿命非常有效。因此,调试时应防止波纹管受
到过量的压缩,操作时,还应注意过冲行程不宜过大。又由于真空断路器分闸时有重击穿现象发生,所以
对于减小触头开距应慎重。
为便于探讨触头开距,将分闸状态的触头开距称为静态开距,而将分闸操作中的触头开距称为动态开
距。
3.1静态开距
通过仪器对真空断路器进行合闸操作测试,其C相时间行程特性曲线如图2所示。图中,纵坐标0点
位置对应断路器分闸为证,触头开距为7.70mm(动触头由分闸位置到动、静触头刚接触点的行程),即动、
静触头导电部分间的间隙。
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测量触头开距的传统方法是:分别测量动导电杆上一点在分、合闸位置时相对于同一基准的距离,二
者之差则为触头开距,对应于图2中,分闸位置到合闸位置的行程10.28mm,与真实间隙相差2.58mm。
分析两种方法所测值出现误差的原因:①加工制造产生的误差:动、静触头表面微观不平;触头表面
相互不平行,对接不理想;②零件设计产生的误差:动、静触头材料、结构及导电杆刚度较小;基体支撑
部分刚度较小等。触头接触后,在触头弹簧压力及冲击力作用下,产生弹、塑性变形而导致。
由于传感器是机械固定在动导电杆端及上支架上,而且传感器的质量很小,所以对于该测量系统可认
为是刚性的,同时,该例中对于测量基准也采用的相同基准,分析也基于同一曲线,所以由测量方法产生
的误差可忽略。根据统计,误差值因断路器及灭弧室的不同而有所不同,约为O~3mn,分散性很大。
为使测量结果准确、稳定,可使断路器空载合、分操作一定次数,拍平触头毛刺,增加接触面积,尽
可能消除可能出现的塑性变形,增强整体抗变形能力,以减小测量值的分散性。同时,由于系统弹性变形
仍然存在,所以建议采用测试仪器直接读数,也可用欧姆表等监测触头刚接触位置时,测量动触头在分闸
位置与触头刚接触位置间的真实距离作为触头开距。
3.2动态开距
3.2.1最小动态开距——有效开距
真空断路器在分闸操作过程中,动、静触头间可能出现的最小间隙即最小动态开距。
图3为重合闸测试的时间行程特性曲线图。
2次分闸过程中的最小动态开距是不同的,对于该断路器的最小动态开距应取第2次分闸时的最小动
态开距,即触头刚接触位置与第2次分闸反弹最高点之间的距离为7.10mm。在2次分闸过程中,触头最小
动态开距的不同是由缓冲器不稳定造成的。
目前,控制最小动态开距的办法是通过控制触头开距和分闸反弹幅值,二者差表征最小动态开距。但
从上面分析可知,影响最小动态开距的因素除触头开距、分闸反弹幅值外,还有缓冲器复位情况。很多出
现开断失败及重击穿现象的原因是有效开距过小,故应规定断路器的最小动态开距。
同样,在测量静态开距时
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