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哈尔滨工业大学硕士学位论文
摘要
聚酰亚胺(PI)是指分子主链中含有酰亚胺环状结构的环链高聚物。具有耐高
温、强度高、高绝缘性、低介电常数和低介电损耗等优异的综合性能,近年来PI
在微电子工业中得到了广泛的应用。PI本身的高耐热和高绝缘性能使其十分适用
于高功率电子器件的基板材料,而传统PI覆铜板制备工艺存在成品耐热性差、难
以制备厚Cu层的问题。针对上述问题,本文通过磁控溅射在PI板上制备了微米
级的Cu膜,后续采用扩散连接方法将一定厚度的Cu箔连接在PI板上,并且分
析了氧化层的添加对界面的影响机制。
通过控制磁控溅射的工艺,得到了与PI衬底结合良好的Cu膜。在磁控溅射
中,随氩气气压上升,PI与Cu膜界面结合强度先上升后下降,气压为1.8Pa
时,PI与Cu膜结合强度最好;溅射功率在400W以下时,PI与Cu膜结合较
好,而当溅射功率大于等于600W时,界面结合强度则逐渐减小;当溅射时间达
到40min时,界面结合强度开始下降。采用以上参数制备的Cu膜均有一定的
(111)面择优取向。
将磁控溅射制备的PI/Cu结构与Cu箔进行扩散连接以加厚Cu层。扩散连接
温度由250℃逐渐升高到350℃时,Cu-Cu界面逐渐焊合,并且接头强度逐渐提
高。随压力提高Cu-Cu界面结合情况改善,接头强度逐渐上升,在不破坏母材的
前提下,通过350℃-15MPa-60min扩散连接工艺获得了最高接头剪切力为73
N。但此强度仍然很低。通过断裂路径发现,接头均断裂于PI/Cu界面。
添加Cu-O过渡层可以显著提高PI与Cu膜的结合强度。通过分子动力学模
拟证明了CuO相比CuO与PI亲和力更强,从而确定了需要制备的氧化层成分。
2
氧化层成分由CuO转变为CuO。热氧化时间对界面产物影响不大,从0.5h到2
2
h界面产物均为CuO。350℃-0.5h的热氧化参数下形成了约500nm厚的CuO
22
层。对添加了CuO过渡层的PI/Cu-Cu结构进行扩散连接,结果发现,添加CuO
22
过渡层后,接头最大剪切力最高可达207N。
通过XPS分析以及第一性原理计算研究了Cu与PI相互作用机制。Cu与PI
的结合主要为Cu与PI单体中均苯二酐(PMDA)中的羰基氧产生静电作用所致。
随沉积过程的进行,Cu团簇与PI单体之间的结合仍然主要依靠初始Cu原子与
PMDA中的羰基氧的静电作用。引入O原子后,初始Cu原子与PMDA中的羰基
氧相互作用明显增强,并且Cu-O团簇与PI之间相互作用明显增强,界面结合强
度得到了提高。
关键词:聚酰亚胺;磁控溅射;扩散连接;铜箔;覆铜板;第一性原理
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哈尔滨工业大学硕士学位论文
Abstract
Polyimide(PI)referstotheringchainpolymerwithimideringstructureinthe
mainchainofthemolecule.PIhasexcellentcomprehensivepropertiessuchashigh
temperatureresistance,highstrength,highinsulat
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