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利用动态选通及抗亚稳态技术优化芯片延迟参数测量方案

目录

内容简述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．3

1.1研究背景与意义．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．4

1.1.1芯片延迟参数的重要性．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．8

1.1.2动态选通技术的应用现状．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．9

1.1.3抗亚稳态技术的研究进展．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．11

1.2研究目标与任务．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．11

1.2.1研究目标．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．12

1.2.2研究任务．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．14

1.3论文结构安排．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．15

理论基础与相关技术．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．16

2.1动态选通技术概述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．17

2.1.1动态选通的基本原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．18

2.1.2动态选通技术的优势分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．20

2.2抗亚稳态技术概述．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．21

2.2.1抗亚稳态技术的基本原理．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．22

2.2.2抗亚稳态技术的优势分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．24

2.3芯片延迟参数测量方法．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．25

2.3.1传统测量方法．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．28

2.3.2改进的测量方法．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．30

动态选通技术在芯片延迟参数测量中的应用．．．．．．．．．．．．．．．．．30

3.1动态选通技术的原理与实现．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．31

3.1.1动态选通电路设计．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．32

3.1.2动态选通技术的优势．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．33

3.2动态选通技术在延迟参数测量中的具体应用．．．．．．．．．．．．．．．．36

3.2.1实验设计与实施步骤．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．38

3.2.2实验结果与分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．39

3.3案例研究．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．40

3.3.1案例选择与分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．43

3.3.2案例总结与讨论．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．45

抗亚稳态技术在芯片延迟参数测量中的应用．．．．．．．．．．．．．．．．．46

4.1抗亚稳态技术的原理与实现．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．47

4.1.1抗亚稳态电路设计．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．48

4.1.2抗亚稳态技术的优势．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．50

4.2抗亚稳态技术在延迟参数测量中的具体应用．．．．．．．．．．．．．．．．51

4.2.1实验设计与实施步骤．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．52

4.2.2实验结果与分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．54

4.3案例研究．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．55

4.3.1案例选择与分析．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．．57

4.3.2案例总结与讨论．