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微波模块三维封装的热失效分析与结构优化

研究生:张碧

指导老师:魏志勇副教授,蒋哲昊

东南大学机械工程学院,南京

摘要

微波模块小型化、高密度的发展使其封装和服役过程中产热增加,不同材料之间发

生热失配,导致内部产生热应力,造成微波模块的热失效。因此,本文基于某军工研究

所研发项目,采用有限元瞬态热力耦合方法开展对四种基于高温共烧陶瓷(High

TemperatureCo-firedCeramic,HTCC)基板的高功率三维封装微波模块在封装工艺(回

流焊接、钎焊、激光焊接、平行缝焊)以及热循环过程中的热应力研究,分析HTCC基

板和焊料开裂原因,并采用正交试验法优化封装结构,最后在合作研究所制造出优化后

的微波模块并进行相关性能检测,以验证仿真优化模型的有效性,为基于HTCC基板的

有源子阵组件产品的研制及大规模生产奠定工艺设计基础。本文的研究内容和成果如下:

(1)介绍了微波模块封装工艺和结构,完成了HTCC基板的力学性能测试。封装

工艺包括回流焊接、激光焊接、钎焊和平行缝焊以及热循环测试。基于HTCC基板的制

造工艺,本文对基板的剪切破坏进行实验测试,获得基板开裂的剪切强度为32.15MPa。

(2)对连续封装工艺过程进行仿真,通过温度测量实验与求解温度解析解验证了

温度场仿真的正确性。微波模块的封装过程会涉及两个及以上工艺,通过命令流的形式

实现连续工艺仿真,考虑了上一步工艺产生的残余应力对下一步的影响。采用多路温度

测试仪,并连接K型热电偶探头进行温度测量,以验证回流焊温度场的正确性。通过求

解瞬时高斯热源温度场分布验证激光焊接和平行缝焊仿真温度场。

(3)完成了焊装类架构封装工艺仿真和结构优化,并制造出优化模型进行性能测

试,验证了仿真优化模型的有效性。研究发现,由于HTCC基板和上下表面接触的焊料

热膨胀系数不一致而受到平面剪切应力,从而导致层间开裂失效;Sn96.5Ag3.0Cu0.5

(SAC305)焊料由于热变形程度较大,所受热应力超过抗拉强度而开裂。结合实际生产

过程,选取围框高度、围框厚度、基板尺寸、基板厚度4个因素进行正交试验设计,优

化组件结构,并分析各个因素对微波模块热应力的影响。优化模型的残余应力均比原模

型减小了,最大可达74.0%。最后对优化结构进行显微观察、平面度测量、密封和电性

能测试,验证了模型优化的有效性。

(4)完成了组装类架构封装工艺仿真和结构优化,并在合作研究所对优化架构进

行性能检测,以验证仿真结构优化的有效性。研究发现,在回流焊冷却阶段,焊料的凝

固收缩程度大于基板,因此对基板造成水平面的剪切应力,导致基板层间开裂。激光焊

阶段,围框变形导致基板和焊料发生受迫变形,且热应力呈上升趋势。对于球栅阵列封

装(BallGridArray,BGA),研究发现由于基板的翘曲变形,导致BGA焊点受到拉应

力而脱落,且基板边缘处形变最大,所以角落焊点为危险焊点,实际封装过程中也是角

落焊点易发生脱落。结合实际研制过程,选取基板厚度、基板尺寸、腔体占比、壳体材

料这四个因素进行研究正交试验设计,优化组件封装结构,并对优化后的结构进行热应

力仿真,在优化基础上,运用显微镜和飞针测试仪等设备检查优化模型各项指标,验证

了仿真优化的正确性。

关键词:微波模块;封装工艺;结构优化;热应力;热力耦合

ThermalFailureAnalysisandStructural

Optimizationof3DMicrowaveModule

ByZhangBi

SupervisedbyProf.WeiZhiyongandEngineer.JiangZhehao

SchoolofMechanicalEngineering,SoutheastUniversity,Nanjing,China

Abstract

Withthecontinuedemanding

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