半导体器件 第5-11部分：光电子器件 发光二极管 辐射和非辐射电流的测试方法 发展报告.docxVIP

半导体器件第5-11部分：光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法发展报告

EnglishTitle:SemiconductorDevices–Part5-11:OptoelectronicDevices–LightEmittingDiodes–TestMethodsforRadiativeandNon-RadiativeCurrents

摘要

本报告围绕国家标准《半导体器件第5-11部分：光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法》的立项背景、目的意义、适用范围及主要技术内容展开系统分析。该标准等同采用国际标准IEC60747-5-11:2019，旨在规范发光二极管（LED）的辐射和非辐射电流测试方法，完善我国光电子器件标准体系，提升国内半导体照明和光电子产业的技术水平与国际竞争力。报告详细阐述了标准的技术框架、测试方法及实际应用价值，强调了其在推动产业标准化、促进技术创新和保障产品质量方面的重要作用。研究认为，该标准的实施将有效促进我国光电子产业的健康发展和国际化进程。

关键词：半导体器件；光电子器件；发光二极管；辐射电流；非辐射电流；测试方法；国际标准

Keywords:SemiconductorDevices;OptoelectronicDevices;LightEmittingDiodes;RadiativeCurrent;Non-RadiativeCurrent;TestMethods;InternationalStandards

正文

1引言

随着全球半导体技术和光电子产业的迅猛发展，发光二极管（LED）作为核心光电器件，在照明、显示、通信等领域的应用日益广泛。为统一LED光电特性参数的测试方法，国际电工委员会（IEC）发布了IEC60747-5-11:2019标准，系统规定了LED辐射和非辐射电流的测试方法。我国通过等同采用该国际标准，制定相应的国家标准，不仅有助于完善国内标准体系，还能推动技术进步和产业升级。

2目的与意义

IEC60747-5-11:2019是IEC60747-5系列标准的第11部分，该标准详细给出了发光二极管（LED）辐射和非辐射电流的测试方法，进一步完善了发光二极管芯片和封装的光电特性参数体系。我国等同采用该标准具有多重意义：

1.完善标准体系：填补了国内在LED辐射和非辐射电流测试方面的标准空白，使我国光电子系列标准更加系统化和完整。

2.与国际接轨：通过采用国际标准，促进国内外技术交流与合作，提升我国光电子产品的国际认可度和市场竞争力。

3.服务产业发展：为LED设计、制造和应用企业提供统一、科学的测试依据，有助于提高产品质量、降低研发成本、加速技术创新。

该标准的实施将直接支持我国半导体照明、显示技术及光通信等重点领域的发展，符合《国家标准化发展纲要》中关于加强关键技术领域标准制定的指导方针。

3范围与主要技术内容

本标准适用于发光二极管芯片以及不含荧光粉的LED封装器件。其主要技术内容包括以下方面：

1.术语、定义和缩写：对涉及辐射电流、非辐射电流及相关测试参数的专业术语进行了明确定义，确保技术描述的一致性和准确性。

2.测试方法：详细规定了辐射和非辐射电流的测试原理、设备要求、环境条件、操作步骤及数据处理方法，确保测试结果的可靠性和复现性。

3.测试报告：明确了测试报告应包含的内容要素，如样品信息、测试条件、结果数据和不确定性分析等，为用户提供完整的文档规范。

4.附录：提供了测试中的注意事项、示例计算及相关参考文献，增强标准的实用性和可操作性。

该标准的技术内容科学严谨，既考虑了实际应用需求，也兼顾了技术发展趋势，例如对高效率LED和新结构器件的测试兼容性。

4主要参与单位介绍

本标准的主要起草单位为中国电子技术标准化研究院（CESI）。该院是工业和信息化部直属事业单位，长期从事电子信息技术领域的标准化科研工作，承担了大量国家标准和行业标准的制修订任务。在光电子器件标准化方面，CESI牵头或参与了多项重要标准的制定，具有深厚的技术积累和行业影响力。其专业团队在半导体器件测试、标准国际化推广等方面发挥了关键作用，为本标准的科学性和适用性提供了坚实保障。

5结论与展望

《半导体器件第5-11部分：光电子器件发光二极管辐射和非辐射电流的测试方法》国家标准的制定和实施，是我国光电子领域标准化工作的重要进展。通过与国际标准全面接轨，该标准不仅提升了测试方法的科学性和一致性，也为产业高质量发展提供了技术支撑。未来，随着Mini/MicroLED、新型半导体照明等技术的不断发展，标准内容需持续更新以适应新的技术需求。建议进一步加强与国际标准的动态跟踪，促进