SPC统计过程控制案例分析报告.docVIP

统计过程控制（SPC）案例分析

一．用途

1.分析判断生产过程的稳定性，生产过程处于统计控制状态。

2．及时发现生产过程中的异常现象和缓慢变异，预防不合格品产生。

3．查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。

4．为评定产品质量提供依据。

二．控制图的基本格式1．标题部分

产品名称

质量特性

观察方法

规格界限Tu

（或要求）Tl

作业指导书编号

生产过程

质量要求

日时样本

期间号

X-R控制图数据表

工作指令编号车间

规定日产量抽间隔

样数量

仪器编号

测定值

X1X2X3X4X5

收集数据期间

设备编号操作

人员

检验人员

均值极差备注

XR

计算：X图：CL=XR图：CL=R

UCL=X+ARUCL=DR

24

LCL=X-ARLCL=DR

23

2．控制图部分

质

质量特性

UCL

CL

LCL

样本号

在方格纸上作出控制图：

X

XR控制图

X图

R图

说明操作人

班组长

班组长

质量工程师

横坐标为样本序号，纵坐标为产品质量特性。图上有三条平行线：

实线CL：中心线

虚线UCL：上控制界限线

LCL：下控制界限线。

三．控制图的设计原理

1．正态性假设：绝大多数质量特性值服从或近似服从正态分布。

2．3σ准则：99。73%。

3．小概率事件原理：小概率事件一般是不会发生的。

4．反证法思想。

四．控制图的种类

1．按产品质量的特性分（1）计量值（X—R,—R,X—R,X—S）S

（2）计数值（p，pn，u，c图）。

2．按控制图的用途分：（1）分析用控制图；（2）控制用控制

图。

五．控制图的判断规则

1．分析用控制图：

规则1判稳准则-----绝大多数点子在控制界限线（3种情况）；

规则2判异准则-----排列无下述现象（8种情况）。

2．控制用控制图：

规则1每一个点子均落在控制界限。

规则2控制界限点子的排列无异常现象。

[案例1]p控制图

某半导体器件厂2月份某种产品的数据如下表(2)(3)栏所表示,根据以往记录知,稳态下的平均不合格品率p0.0389,作控制图对其进行控制.

数据与p图计算表

组号(1)

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

11

12

13

14

15

16

17

18

19

20

21

22

23

34

样本量(2)

85

83

63

60

90

80

97

91

94

85

55

92

94

95

81

82

75

57

91

67

86

99

76

93

不合格品数D(3)

2

5

1

3

2

1

3

1

2

1

0

1

0

3

0

7

3

1

6

2

3

8

1

8

不合格品率p(4)P图的UCL(5)

0.024

0.060

0.016

0.050

0.022

0.013

0.031

0.011

0.021

0.012

0

0.011

0

0.032

0

0.085

0.040

0.018

0.066

0.030

0.035

0.080

0.013

0.086

0.102

0.103

0.112

0.114

0.100

0.104

0.098

0.100

0.099

0.102

0.117

0.099

0.099

0.098

0.103

0.103

0.106

0.116

0.100

0.110

0.101

0.097

0.105

0.099

25

26

27

28

小计

72

97

99

76

2315

5

9

10

2

90

0.069

0.093

0.100

0.026

0.107

0.098

0.097

0.105

[解]

步骤一:预备数据的取得,如上边表所示.

步骤二:计算样本不合格品率pi=Di/ni,