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在PN结的N型区,在杂质激发范围内,电子浓度远高于空穴浓度,其EF应在带隙的上半部,靠近导带底;而在P型区,空穴浓度远大于电子浓度,EF在带隙的下半部接近于价带顶。即(EF)N(EF)P,于是电子将从EF高的N型区流向P型区,在PN结的界面上产生电荷的积累,形成一定的接触电势差。第62页,共95页,星期日,2025年,2月5日这个接触电势差使得P型区相当于N型区具有负的电势-VD,从而使P型区中电子的静电势能提高了eVD,即P型区的整个电子能级上移了,eVD恰好补偿P型区与N型区EF原来的差别,即使两边的费米能拉平。平衡时,在接触界面处形成了一能带过渡区,在此区域内,电子和空穴的分布破坏了原来的电中性,形成一空间电荷区,其宽度约为~10-6m的数量级。此区域的强电场对N型区的电子和P型区的空穴都是一个高为eVD的势垒,称为平衡PN结势垒。第63页,共95页,星期日,2025年,2月5日建立稳定的PN结势垒后,从N型区进入P型区电子的浓度nP0为其中,nN0为N型区电子的平衡浓度。同理,进入N型区的空穴浓度pN0为这里,pp0为P型区中空穴的平衡浓度。由此可知,在空间电荷区中,电子(空穴)浓度由N(P)型区的nN0(pp0)按指数形式衰减到P(N)型区的nP0(pN0)。

在平衡PN结中,载流子的扩散和漂移运动处于相对平衡。第64页,共95页,星期日,2025年,2月5日二、PN结的单向导电性若在PN结上加一外电压V,由于空间电荷区中载流子浓度很低,因而电阻很高,PN结势垒将改变eV,从而破坏了原来的平衡,引起载流子的重新分布。1.PN结的正向注入当PN结加正向偏压时,外加电压使空间电荷区中的电场减弱,PN结势垒降低为e(VD-V),打破了漂移运动与扩散运动的相对平衡。由于PN结加正向偏压,将有部分电子从N型区进入P型区,空穴从P型区进入N型PN第65页,共95页,星期日,2025年,2月5日区,称为非平衡载流子。这种现象称为PN结的正向注入。

由于正向注入,势垒边界上的少数载流子浓度从原来的nP0↗nP和pN0↗pN,根据Boltzmann统计可求得{与平衡是的浓度相比,得和第66页,共95页,星期日,2025年,2月5日即正向偏压使界面处的少数载流子积累,其浓度提高了倍。于是,边界处非平衡载流子的浓度为{这些边界处的非平衡载流子边扩散边复合向体内运动,从而形成扩散电流,扩散电流密度为第67页,共95页,星期日,2025年,2月5日解得本征费米能为在一般情况下,由于kBT较小,且mh*和me*相差不大,所以,本征半导体的费米能EFi近似地在带隙的中间。第30页,共95页,星期日,2025年,2月5日2.非本征半导体对于非本征半导体,其费米能EF及载流子浓度均与杂质原子有关。设半导体中各含一个浅施主和一个浅受主。在一定温度下,导带中的电子可以来自施主的热电离,也可以来自价带的热激发;而价带中的空穴可以产生于带间的热激发或受主的热电离。此外,电子还可以从施主能级落入受主能级。因此,在一定温度下,半导体中两种载流子的浓度并不相同。对本征半导体:第31页,共95页,星期日,2025年,2月5日设半导体中的施主和受主浓度分别为ND和NA。在一定温度下,假设在ND个施主杂质中束缚有nD个电子;而在NA个受主中束缚有pA个空穴。所以,半导体中正电荷的数目为p+ND-nD,负电荷数为n+NA-pA。由于半导体必须保持电中性,即半导体中正负电荷的总数相等。由于杂质能级上只允许一个电子占据,根据统计物理可得,施主杂质能级上的电子占有数为第32页,共95页,星期日,2025年,2月5日而未被电子占据的受主杂质数(或其上的空穴数)为代入电中性关系式得第33页,共95页,星期日,2025年,2月5日根据上式即可确定非本征半导体的费米能EF,并求出相应的电子浓度n和空穴浓度p。对于只有施主杂质ND的N型半导体,在较低温度下,载流子只有由施主杂质电离的导带电子,而从价带跃迁到导带的电子非常少,p?0。这时,电中性条件为可以解得第34页,共95页,星期日,2025年,2月5日其中{当温度很低时,EC-ED2kBT,?2(NC?T3/2),这时只有部分杂质电离,可近似得第35页,共95页,星期日,2025年,2月5日在一般情况下,ND2NC,所以,在很低温度下这时的N型半导体就好像一个带隙为Eg=EC-ED的本征半导体一样。在?2

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