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数字电路易测性重构的技术架构与自动化路径探究

一、引言：数字电路测试技术的演进与重构需求

（一）数字电路复杂度升级对可测性的挑战

在当今数字化时代，数字电路作为现代电子系统的核心组成部分，其应用领域不断拓展，从日常的消费电子产品，如智能手机、平板电脑，到高端的通信设备、航空航天系统，数字电路无处不在。随着集成电路集成度呈指数级增长，摩尔定律持续推动着芯片上晶体管数量的不断增加，数字电路的规模和复杂度达到了前所未有的程度。以先进的微处理器为例，其内部集成了数十亿个晶体管，功能模块繁多，信号交互错综复杂。

传统的数字电路测试方法在面对如此复杂的电路结构时，逐渐暴露出诸多瓶颈。在故障覆盖率方面，由