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运算放大器加速退化试验设计与退化建模研究.pdf

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    摘要

    近年来，伴随着我国电子工业与信息技术的飞速发展，人们对于电子元器件的

    质量和可靠性提出了更高的要求。运算放大器作为一种广泛应用于各种电路的重

    要器件，它能否持续稳定运行将直接影响电路的工作状态与整个系统的性能，因此，

    评估运算放大器的可靠性、获取其准确的寿命信息具有十分重要的意义。然而，以

    运算放大器为代表的电子产品普遍寿命较长，传统的加速寿命试验已无法发挥作

    用，进而无法通过寿命分布获得其可靠度。针对此问题，本文以某型运算放大器为

    研究对象，采用以下步骤进行运算放大器的退化建模及可靠性评估。

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