数字测温仪程序结构与功能说明.pdfVIP

；数字测温仪程序编制说明

；

；本程序工作过程如下：

；1、开机后首先进行初始化，初始化后显示“P”1秒，提示系统进入测试工作状态，显

；示完成后，进行温度测试。

；2、温度测试的过程是这样的：

；*T0置为计数方式，对T0脚（即P3.5）的脉冲计数，工作方式2，初值为255

；*将T1置为定时方式，工作方式2，初值为0

；*从P3.4口送单稳触发脉冲，使555输出单稳脉冲（正脉冲），该脉冲宽度随热敏

；电阻阻值而变化。

；*开T0、T1中断，启动T0、T1。此时T1自动对机器周期计数，当TL1溢

；出时，产生T1中断。在T1中断处理程序中，将RAM21H单元加1（即21H单

；元存放脉冲宽计数值）后返回主程序。

；*当来自P3.5的单稳脉冲结束（即下降沿到来）时，TL0计数器加1并溢出，产

；生T0中断。在T0中断处理程序中，关T0、T1中断，并将TL1中的的内容读

；到RAM20H单元（20H单元存放脉宽计数值的低位）。

；*查表求温度值

；NTTAB是脉宽计数值与温度的对照表，按低温到高温的次序存放，即第一、第

；二单元存放-1000

C时的脉宽计数值，依此类推，第121和122单元则存放+50C

；时的脉宽计数值。

；将20H、21H中的计数值与NTTAB中的计数值依次进行比较，直至20H、21H

；中的值小于NTTAB中的计数值为止。而比较的次数就对应温度的整数值，二计

；数值之差与对照表相邻两计数值的商即为小数位。

；3、程序中除了对-1000

C到+50C进试外，还有开路（计数值过大）、短路检测（计

；数值过小）、负超温检测、正超温检测，并有相应的显示。

；4、将检测值（温度值或其他结果）显示1秒，然后再重复温度检测。

；需要说明的是：本程序虽包括了测温的全过程，但未考虑软硬件的自检，软件滤波等部

；分。

；关于99年第51期电路图中元件参数说明

；1、C5为0.1μ。

；2、电容C4、热敏电阻RT的参数决定单稳脉冲的宽度，而最终的计数值除了与单稳

；脉冲的宽度有关外，还与晶振频率有关，因而在RT的型号确定后要根据系统对精

；度和分辨率等的要求选择C4的值。本程序中NTTAB脉宽计数值与温度对照表是在

；热敏电阻为MF53-1型负温热敏电阻加12K精密电阻与之并联，C4为1μ，晶振为

；4MHz的条件下得到的。数据不十分准，仅做参考。读者在元件参数定了后，可在

；调试程序时用可变电阻箱代替热敏电阻，在程序测出计数值处设断点，读出每个标

；准阻值所对应的计数值（即20H、21H中的内容），自己将NTTAB建立起来。

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；*用89C2051控制的数字测温仪*

；*源程序*

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ORG0000H

AJMPMAIN；转主程序

ORG000BH

AJMPWT0；T0中断

ORG001BH

AJMPWT1