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2025年分析技师分析仪器维护考试试题与答案

一、单项选择题（每题2分，共30分）

1.高效液相色谱仪（HPLC）泵压力波动过大时，以下哪项不是常见原因？

A.流动相脱气不彻底

B.色谱柱堵塞

C.单向阀密封垫老化

D.检测器光源能量不足

答案：D

解析：泵压力波动主要与输液系统有关，检测器光源影响信号强度，与泵压力无关。流动相气泡（A）、色谱柱或管路堵塞（B）、单向阀密封失效（C）均会导致压力不稳定。

2.气相色谱仪（GC）进样口衬管污染后，最可能出现的现象是？

A.基线噪声降低

B.目标物峰面积增大

C.高沸点物质残留峰

D.柱温升温速率变慢

答案：C

解析：衬管污染会导致样品吸附或分解，尤其高沸点物质易残留，形成鬼峰；污染通常导致峰面积减小（B错误），基线噪声升高（A错误），柱温控制与进样口无关（D错误）。

3.原子吸收光谱仪（AAS）空心阴极灯老化时，典型表现为？

A.吸光度信号漂移

B.火焰高度降低

C.雾化效率下降

D.单色器分辨率提高

答案：A

解析：空心阴极灯老化会导致发射光强不稳定，引起吸光度信号漂移；火焰高度由燃气流量控制（B错误），雾化效率与雾化器有关（C错误），单色器分辨率由光学系统决定（D错误）。

4.紫外-可见分光光度计（UV-Vis）比色皿使用后未及时清洗，残留样品结晶最可能损伤的部件是？

A.氘灯

B.光栅

C.比色皿透光面

D.检测器

答案：C

解析：残留样品结晶会在比色皿透光面形成划痕或污渍，影响光透过率；氘灯（A）、光栅（B）、检测器（D）均不直接接触样品。

5.电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）炬管中心管积盐的主要原因是？

A.等离子体功率过高

B.样品盐含量过高

C.雾化器流速过低

D.冷却气流量过大

答案：B

解析：高盐样品在中心管表面蒸发后结晶积盐；功率过高（A）会导致炬管烧蚀，雾化器流速（C）影响进样量，冷却气（D）控制等离子体位置，均非积盐主因。

6.质谱仪（MS）真空度下降时，最先需要检查的部件是？

A.离子源加热温度

B.分子泵油位

C.色谱柱接口密封

D.检测器电压

答案：B

解析：分子泵故障或油位不足是真空度下降的常见原因；离子源温度（A）影响离子化，色谱柱接口（C）泄漏会导致真空度下降但非“最先”，检测器电压（D）与真空无关。

7.自动电位滴定仪电极响应延迟的主要原因是？

A.滴定剂浓度偏低

B.搅拌速度过快

C.参比电极液接界堵塞

D.样品pH值过高

答案：C

解析：参比电极液接界堵塞会阻碍离子迁移，导致响应延迟；滴定剂浓度（A）影响滴定体积，搅拌速度（B）过慢可能影响均匀性，样品pH（D）与电极类型相关。

8.热重分析仪（TGA）基线漂移的常见原因不包括？

A.坩埚材质与样品反应

B.炉体温度校准偏差

C.保护气流量波动

D.天平传感器老化

答案：A

解析：坩埚与样品反应会导致失重异常，而非基线漂移；温度校准（B）、气流波动（C）、天平老化（D）均会引起基线不稳定。

9.红外光谱仪（IR）干涉图信号弱的可能原因是？

A.样品池窗片污染

B.检测器温度过低

C.扫描次数设置过多

D.分束器受潮

答案：D

解析：分束器受潮会降低红外光透射率，导致信号弱；样品池污染（A）影响样品光谱，检测器温度（B）过低通常提高灵敏度，扫描次数（C）影响信噪比。

10.毛细管电泳仪（CE）电渗流不稳定的主要影响因素是？

A.缓冲液pH值波动

B.分离电压过低

C.毛细管长度过短

D.检测器波长偏移

答案：A

解析：电渗流与缓冲液pH（影响表面电荷）直接相关；电压（B）影响迁移速度，毛细管长度（C）影响分离时间，检测器波长（D）影响检测信号。

11.气相色谱-质谱联用仪（GC-MS）离子源污染时，质谱图中最可能出现的特征是？

A.分子离子峰增强

B.本底质谱中出现硅氧烷峰

C.保留时间提前

D.质量数校准偏差

答案：B

解析：离子源污染（如进样隔垫碎片、柱流失）会导致硅氧烷（如m/z207、281）本底峰；分子离子峰通常减弱（A错误），保留时间由色谱柱决定（C错误），质量数校准（D）与校准物质有关。

12.高效液相色谱仪色谱柱柱压突然升高，首先应排查的是？

A.流动相pH是否超出柱耐受范围

B.柱前过滤白头是否堵塞

C.检测器流通池是否堵塞

D.泵密封圈是否磨损

答案：B

解