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什什么么是是JTAG接接口口——RAM

JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（TestAccessPort，测试问

口），通过专用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

JTAG(JointTestActionGroup，联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议，主要用于芯片内部测试及对系统进行仿真、调

试，JTAG技术是一种嵌入式调试技术，它在芯片内部封装了专门的测试电路TAP（TestAccessPort，测试问口），通过专

用的JTAG测试工具对内部节点进行测试。

目前大多数比较复杂的器件都支持JTAG协议，如ARM、DSP、FPGA器件等。标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、

TDO，分别为测试模式选择、测试时钟、测试数据输入和测试数据输出。

JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。JTAG接口还常用于实

现ISP（In-SystemProrammable在系统编程）功能，如对FLASH器件进行编程等。

通过JTAG接口，可对芯片内部的所有部件进行问，因而是开发调试嵌入式系统的一种简洁高效的手段。目前JTAG接口的

连接有两种标准，即14针接口和20针接口，其定义分别如下所示。

14针JTAG接口定义：

14针JTAG接口定义引脚名称描述

1、13VCC接电源

2、4、6、8、10、14GND接地

3nTRST测试系统复位信号

5TDI测试数据串行输入

7TMS测试模式选择

9TCK测试时钟

11TDO测试数据串行输出

12NC未连接

20针JTAG接口定义引脚名称描述

1VTref目标板参考电压，接电源

2VCC接电源

3nTRST测试系统复位信号

4、6、8、10、12、14、16、18、20GND接地

5TDI测试数据串行输入

7TMS测试模式选择

9TCK测试时钟

11RTCK测试时钟返回信号

13TDO测试数据串行输出

15nRESET目标系统复位信号

17、19NC未连接

下面以S3C4510B开发板为例说明JTAG接口：

在保证电源电路、晶振电路和复位电路正常工作的前提下，可通过JTAG接口调试S3C4510B，在系统上电前，首先应检测

JTAG接口的TMS、TCK、TDI、TDO信号是否已与S3C4510B的对应引脚相连，其次应检测S3C4510B的nEWAIT引脚

（Pin71）是否已上拉，ExtMREQ引脚（Pin108）是否已下拉，对这两只引脚的处理应注意，作者遇到多起S3C4510B不能正

常工作或无法与JTAG接口通信，均与没有正确处理这两只引脚有关。

给系统上电后，可通过示波器查看S3C4510B对应引脚的输出波形，判断是否已正常工作，若S3C4510B已正常工作，在使能

片内PLL电路的情况下，SDCLK/MCLKO引脚（Pin77）应输出频率为50MHz的波形，同时，MDC引脚（Pin50）和其他一些

引脚也应有波形输出。

在保证S3C4510B已正常工作的情况下，可使用ADS或SDT通过JTAG接口对片内的部件进行问和控制。

在此，首先通过对片内控制通用I/O口的特殊功能寄存器的操作，来点亮连接在P3～P0口上的4只LED，用以验证ADS或SDT

调试环境是否已正确设置，以及与JTAG接口的连接是否正常。

ADS和SDT均为ARM公司为方便用户在ARM芯片上进行应用开发而推出的一整套集成开发工具，其中，ADS为SDT的升级版

本。该系统的调试以ADS为例，同时也适合于SDT开发环境。

连接好硬件后，打开AXDDebuer，建立与目标板（待调试的系统板）的连接，AXDDebuer有软件仿真方式和带目标系统

的调试方式，此时应工作在带目标系统的调试方式。

选择菜单SystemViews→CommandLineInterface功能，该选项为AXDDebuer的一个命令行窗口，可在该窗口内输入各种调

试命令，使用非常方便。在命令行窗口输入：

setmem0x3FF5000,0xFFFF,32

setmem0x3FF5008,0xFFFF,32

setmem命令用于对特定的地址设置特定的值，待设定的值可以是8位、16位或32位，在此，对通用I/O口的模式寄存器和数据

寄存器设置相应的值，点亮LED。

S3C4510B在复位后，特殊功能寄存器的基地址为0x3FF0000