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2025年事业单位工勤技能-通用版-无损探伤工三级（高级工）历年参考题典型考点含答案解析

一、选择题

从给出的选项中选择正确答案（共50题）

1、磁粉检测中，缺陷显示最灵敏的条件是？

A.缺陷位于被检测件表面

B.缺陷深度不超过0.5mm

C.缺陷与磁化方向垂直

D.被检测件表面清洁干燥

A..

C.

D.

【参考答案】A

【解析】磁粉检测灵敏度最高的情况是缺陷处于被检测件表面（表面或近表面缺陷），此时磁粉能充分吸附缺陷处的漏磁场。选项B的0.5mm深度限制实际应用中可能因缺陷形态影响检测效果，选项C的垂直方向会导致漏磁场分散，选项D的清洁干燥条件仅影响检测效果而非灵敏度核心因素。

2、超声波检测中，缺陷回波高度与缺陷尺寸的关系是？

A回波高度与缺陷尺寸成正比

B.回波高度与缺陷尺寸平方根成正比

C.回波高度与缺陷深度无关

D.回波高度仅取决于材料声速

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】超声波检测中，缺陷回波高度与缺陷尺寸平方根成正比，这是基于缺陷反射面积与声压变化的物理关系。选项A的关系不符合实际，选项C忽略了深度对反射的影响，选项D未考虑材料声速对波幅衰减的调节作用。

3、射线检测中，γ射线探伤的常用波长范围是？

A.001-0.1mm

B.0.1-1mm

C.1-10mm

D.10-100mm

A.

B.

C.

D.

【参考答案】A

【解析】γ射线探伤通常采用钴-60（1.25MeV）或铱-192（0.38MeV）等，其波长在0.01-.1mm范围，符合穿透力强、适合检测厚工件的特性。选项B对应X射线范围，选项C为γ射线无法有效穿透的厚度，选项D属于γ射线无法到达的极薄材料。

4、渗透检测中，清洗剂的作用不包括？

A.去除表面油污

B.溶解渗透剂

C.清除显像剂残留

D.形成隔离膜

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】渗透检测流程中，清洗剂主要用于去除表面油污（A）和清除显像剂残留（C），隔离膜由渗透剂干燥形成（D）。选项B的溶解渗透剂属于渗透剂自身挥发过程，无需额外清洗介入。

5、超声波检测中，A型显示的横坐标代表？

A.扫描速度

B.脉冲时间

C.材料厚度

D.脉冲幅度

A.

B.

C.

D.

【参考答案】C

【解析】A型显示横坐标为超声波传播时间，通过材料厚度（C）和声速计算可换算出缺陷位置。选项A的扫描速度影响时间轴比例，选项B的脉冲时间对应纵坐标，选项D的脉冲幅度反映信号强度。

6、磁粉检测中，缺陷的磁化方向与缺陷长轴的关系是？

A.平行

B.垂直

C.任意角度

D.无关

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】磁粉检测要求缺陷长轴与磁化方向垂直，以形成最大漏磁场。若平行则漏磁场减弱，任意角度（C）或无关（D）均降低检测。选项A的平行方向不产生有效磁粉显示。

7、射线检测中，胶片黑度不足的主要原因是？

A.焦距过小

B.曝光时间过短

C.胶片型号错误

D.辐射强度不足

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】曝光时间过短（B）会导致胶片银盐颗粒未充分感光，黑度不足选项A的焦距影响成像清晰度而非感光程度，选项C的胶片型号错误可能导致对比度问题，选项D的辐射强度不足会直接导致底片曝光不足。

8、渗透检测中，显像剂的主要成分是？

A.油性基液

B.水性乳液

C.磁粉颗粒

D.渗透剂溶液

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】显像剂为水性乳液（B），其作用是吸留渗透剂并在干燥后形成白色背景。选项A的油性基液用于渗透剂载体，选项C的磁粉颗粒用于磁粉检测，选项D的渗透剂溶液是检测前处理阶段。

9、超声波检测中，当缺陷位于斜表面时，缺陷定位的系数？

A.1.0

B.1.5

C.0.

D.1.2

A.

B.

C.

D.

【参考答案】D

【解析】斜表面缺陷定位需乘以修正系数1.2（D），这是根据缺陷投影面积变化和声束入射角计算得出的标准值。选项A的1.0适用于平面缺陷，选项B的1.5C的0.8为特殊工况下的修正系数。

10、射线检测中，检测厚度超过200mm时，应优先采用？

A.X射线

B.γ射线

C.中子射线

D.激光检测

A.

B.

C.

D.

【参考答案】B

【解析】γ射线（B）因穿透力强（如钴60波长0.025mm）适合检测200mm以上厚工件。X射线（A）适用于薄板（100mm），中子射线（C）用于特殊材料活化检测，激光检测（D）尚不普及。

11、无损探伤中，X射线或γ射线穿透材料时，若发现异常吸收现象，可能对应哪种缺陷类型？

A.表面划痕

B.内部气孔

C.表面裂纹

D.材料分层

【参考答案】B

【解析】X射线探伤（RT）通过检测材料内部对射线的吸收差异识别缺陷。气孔会导致射线部