ZnO与钴掺杂ZnO薄膜的制备工艺及性能差异探究.docx

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ZnO与钴掺杂ZnO薄膜的制备工艺及性能差异探究

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体材料的广袤领域中,ZnO凭借其独特的物理性质,成为了科研人员关注的焦点。作为一种宽带隙半导体材料,ZnO具有六方纤锌矿结构,在室温下拥有高达3.37eV的禁带宽度以及60meV的激子束缚能。这种特性使得ZnO在众多领域展现出了巨大的应用潜力,如在光电器件领域,它被广泛应用于紫外光探测器、发光二极管等的制造。其良好的压电性能,也让它在压电器件中发挥着关键作用,如声表面波器件,能够高效地实现电信号与声信号的相互转换。

随着科技的不断进步,对半导体材料性能的要求也日益提高。为了进一步拓展Zn

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