2025年大学《电子信息材料-电子信息材料性能测试》考试参考题库及答案解析.docxVIP

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2025年大学《电子信息材料-电子信息材料性能测试》考试参考题库及答案解析

单位所属部门:________姓名:________考场号:________考生号:________

一、选择题

1.电子信息材料性能测试中,用于测量材料导电性能的仪器是()

A.热分析仪

B.拉伸试验机

C.电阻测试仪

D.光谱仪

答案:C

解析:电阻测试仪是专门用于测量材料导电性能的仪器,通过它可以得到材料的电阻率等参数。热分析仪主要用于测量材料的热物理性能,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,光谱仪用于分析材料的化学成分。

2.在电子信息材料性能测试中,硬度测试通常使用的方法是()

A.红外光谱分析

B.拉伸试验

C.压入硬度测试

D.密度测量

答案:C

解析:硬度测试是测量材料抵抗局部变形的能力,常用的方法有压入硬度测试、布氏硬度、洛氏硬度等。压入硬度测试是通过将一定质量的载荷压入材料表面,测量压痕的大小来表征材料的硬度。红外光谱分析用于分析材料的化学成分,拉伸试验用于测量材料的力学性能,密度测量用于测量材料的密度。

3.电子信息材料性能测试中,用于测量材料热稳定性的仪器是()

A.恒温恒湿箱

B.热重分析仪

C.拉伸试验机

D.洛氏硬度计

答案:B

解析:热重分析仪(TGA)是专门用于测量材料在加热或冷却过程中质量变化的仪器,通过它可以得到材料的热稳定性数据,如分解温度、氧化起始温度等。恒温恒湿箱主要用于提供稳定的测试环境,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,洛氏硬度计用于测量材料的硬度。

4.在电子信息材料性能测试中,用于测量材料晶体结构的仪器是()

A.光谱仪

B.X射线衍射仪

C.热分析仪

D.扫描电子显微镜

答案:B

解析:X射线衍射仪(XRD)是测量材料晶体结构的常用仪器,通过分析X射线与材料晶体的相互作用,可以得到材料的晶体结构信息,如晶格常数、晶粒尺寸等。光谱仪用于分析材料的化学成分,热分析仪用于测量材料的热物理性能,扫描电子显微镜用于观察材料的表面形貌。

5.电子信息材料性能测试中,用于测量材料介电常数的仪器是()

A.介电常数测试仪

B.热分析仪

C.拉伸试验机

D.硬度计

答案:A

解析:介电常数测试仪是专门用于测量材料介电常数的仪器,通过它可以得到材料的介电性能参数。热分析仪用于测量材料的热物理性能,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,硬度计用于测量材料的硬度。

6.在电子信息材料性能测试中,用于测量材料表面形貌的仪器是()

A.扫描电子显微镜

B.光谱仪

C.热重分析仪

D.电阻测试仪

答案:A

解析:扫描电子显微镜(SEM)是测量材料表面形貌的常用仪器,通过它可以观察到材料表面的微观结构,如晶粒、裂纹、缺陷等。光谱仪用于分析材料的化学成分,热重分析仪用于测量材料的热稳定性,电阻测试仪用于测量材料的导电性能。

7.电子信息材料性能测试中,用于测量材料密度的方法是()

A.密度计测量

B.热分析仪

C.拉伸试验机

D.硬度计

答案:A

解析:密度计测量是测量材料密度的常用方法,通过它可以得到材料的密度值。热分析仪用于测量材料的热物理性能,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,硬度计用于测量材料的硬度。

8.在电子信息材料性能测试中,用于测量材料力学性能的仪器是()

A.拉伸试验机

B.介电常数测试仪

C.热重分析仪

D.光谱仪

答案:A

解析:拉伸试验机是测量材料力学性能的常用仪器,通过它可以得到材料的拉伸强度、屈服强度、弹性模量等力学性能参数。介电常数测试仪用于测量材料的介电常数,热重分析仪用于测量材料的热稳定性,光谱仪用于分析材料的化学成分。

9.电子信息材料性能测试中,用于测量材料热导率的仪器是()

A.热导率测试仪

B.热分析仪

C.拉伸试验机

D.硬度计

答案:A

解析:热导率测试仪是专门用于测量材料热导率的仪器,通过它可以得到材料的热导率值。热分析仪用于测量材料的热物理性能,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,硬度计用于测量材料的硬度。

10.在电子信息材料性能测试中,用于测量材料化学成分的仪器是()

A.光谱仪

B.热分析仪

C.拉伸试验机

D.硬度计

答案:A

解析:光谱仪是测量材料化学成分的常用仪器,通过它可以分析材料的元素组成和化学状态。热分析仪用于测量材料的热物理性能,拉伸试验机用于测量材料的力学性能,硬度计用于测量材料的硬度。

11.电子信息材料性能测试中,测量材料电阻率时,若待测材料电阻率较低,应选择()

A.四线法电阻测试仪

B.二线法电阻测试仪

C.电压表和电流表法

D.万用表

答案:A

解析:对于低电阻率材料,使用二线法或电压表和电流表法会产生较大的测量误差,因为接触电阻和引线电阻的影响不能忽

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