《GB_T 36969-2018纳米技术 原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》专题研究报告.pptx

《GB/T36969-2018纳米技术原子力显微术测定纳米薄膜厚度的方法》专题研究报告;目录;;纳米薄膜技术爆发，测量标准为何成“刚需”;;（三）从科研到产业，标准的全链条价值体现;;AFM的“指尖”奥秘：探针与样品的相互作用机制;;（三）信号采集与成像：如何将原子级作用转化为厚度数据;;样品预处理：除尘、清洗与干燥的标准操作规范;;（三）仪器校准：标准物质与日常校准的双重保障机制;;;（二）金属、半导体与有机薄膜：材质差异下的测量方案区分;;;;;（三）人为误差：操作规范如何规避主观因素干扰;;;（二）数据处理：降噪、拟合与厚度计算的标准算