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无损检测技术中级考试复习指南

一、单选题（每题1分，共20题）

1.在射线检测中，当使用标准透度片时，若透度片100%通过，则表明（）。

A.透度片尺寸不合适

B.射线能量过高

C.射线能量过低

D.透度片材质不正确

2.超声波检测中，直探头检测板厚变化时，若发现声程缩短，则表明（）。

A.板厚增加

B.板厚减少

C.探头角度不当

D.声速变化

3.磁粉检测中，表面缺陷的最佳检测时机是（）。

A.退磁后

B.施加磁粉前

C.施加磁粉后

D.磁化过程中

4.渗透检测中，若发现缺陷显示干燥后呈哑光黑色，则表明（）。

A.显示剂吸收过多磁粉

B.显示剂与缺陷表面化学作用强

C.显示剂变质

D.环境湿度过高

5.涡流检测中，当探头靠近导电材料时，若发现阻抗圆向外移动，则表明（）。

A.材料导电性增强

B.材料导电性减弱

C.探头频率过高

D.探头频率过低

6.射线检测中，当使用胶片进行透照时，若发现胶片感光不均，则可能的原因是（）。

A.曝光时间过长

B.曝光时间过短

C.胶片暗盒密封不良

D.射线源功率不足

7.超声波检测中，斜探头检测曲面时，若发现声束偏斜，则应采取的措施是（）。

A.调整探头角度

B.增加耦合剂

C.减少探头频率

D.改变检测方向

8.磁粉检测中，当发现缺陷显示呈白色或亮色，则表明（）。

A.缺陷为非磁性材料

B.磁粉施加不当

C.缺陷表面油污严重

D.磁化强度不足

9.渗透检测中，若发现缺陷显示呈半透明状，则表明（）。

A.显示剂过浓

B.显示剂过稀

C.缺陷深度较浅

D.缺陷深度较深

10.涡流检测中，当探头靠近绝缘材料时，若发现阻抗圆向内移动，则表明（）。

A.材料介电常数增强

B.材料介电常数减弱

C.探头频率过高

D.探头频率过低

11.射线检测中，当使用数字射线照相系统时，若发现图像噪声较大，则可能的原因是（）。

A.曝光时间过长

B.曝光时间过短

C.像质计位置不当

D.数字探测器灵敏度不足

12.超声波检测中，当发现缺陷回波幅度较低时，则可能的原因是（）。

A.缺陷尺寸较小

B.缺陷尺寸较大

C.探头频率过高

D.探头频率过低

13.磁粉检测中，当发现缺陷显示模糊不清，则可能的原因是（）。

A.磁粉施加不当

B.磁化强度不足

C.缺陷表面油污严重

D.显示剂与缺陷表面化学作用弱

14.渗透检测中，若发现缺陷显示呈红褐色，则表明（）。

A.显示剂与缺陷表面化学作用强

B.显示剂变质

C.环境湿度过高

D.显示剂过浓

15.涡流检测中，当探头靠近导电材料时，若发现阻抗圆向内移动，则表明（）。

A.材料导电性增强

B.材料导电性减弱

C.探头频率过高

D.探头频率过低

16.射线检测中，当使用胶片进行透照时，若发现胶片黑度不均，则可能的原因是（）。

A.曝光时间过长

B.曝光时间过短

C.胶片暗盒密封不良

D.射线源功率不足

17.超声波检测中，当发现缺陷回波幅度较高时，则可能的原因是（）。

A.缺陷尺寸较小

B.缺陷尺寸较大

C.探头频率过高

D.探头频率过低

18.磁粉检测中，当发现缺陷显示呈黑色，则表明（）。

A.缺陷为非磁性材料

B.磁粉施加不当

C.缺陷表面油污严重

D.磁化强度不足

19.渗透检测中，若发现缺陷显示呈半透明状，则表明（）。

A.显示剂过浓

B.显示剂过稀

C.缺陷深度较浅

D.缺陷深度较深

20.涡流检测中，当探头靠近绝缘材料时，若发现阻抗圆向外移动，则表明（）。

A.材料介电常数增强

B.材料介电常数减弱

C.探头频率过高

D.探头频率过低

二、多选题（每题2分，共10题）

1.射线检测中，影响胶片感光度的因素包括（）。

A.曝光时间

B.射线能量

C.胶片类型

D.暗盒密封性

2.超声波检测中，影响声束传播的因素包括（）。

A.材料声速

B.探头频率

C.耦合剂性能

D.探头角度

3.磁粉检测中，影响缺陷显示清晰度的因素包括（）。

A.磁化强度

B.磁粉施加方法

C.缺陷方向

D.显示剂类型

4.渗透检测中，影响缺陷显示形成的因素包括（）。

A.显示剂类型

B.缺陷尺寸

C.缺陷深度

D.清洗时间

5.涡流检测中，影响探头性能的因素包括（）。

A.探头频率

B.材料导电性

C.探头类型

D.耦合剂性能

6.射线检测中，影响图像质量的因素包括（）。

A.曝光参数

B.胶片类型

C.像质计位置

D.数字探测器灵敏度

7.超声波检测中，影响缺陷定位的因素包括（）。

A.声