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集成电路行业IC封装工艺工程师岗位招聘考试试卷及答案
填空题
1.IC封装的四大基本功能是电连接、______、热管理、信号完整性。
2.常见的塑封材料是______。
3.引线键合最常用的两种工艺是金线键合和______。
4.倒装芯片的关键技术是______制作。
5.封装中用于芯片固定的工艺是______。
6.晶圆级封装的英文缩写是______。
7.QFP封装的中文名称是______。
8.回流焊的核心作用是使______熔化形成互连。
9.温度循环试验的英文缩写是______。
10.芯片与基板之间的电连接方式包括键合和______。
单项选择题
1.EMC的主要成分是()
A.环氧树脂B.硅粉C.固化剂D.脱模剂
2.金线键合的优势是()
A.成本低B.导电好、耐腐蚀C.强度高D.易加工
3.倒装芯片常用的凸点材料是()
A.AuB.SnAgCuC.AlD.Cu
4.DieAttach的主要目的是()
A.电连接B.固定芯片并导热C.信号屏蔽D.防潮
5.WLP的主要特点是()
A.尺寸小B.成本低C.易维修D.高散热
6.QFN封装的优点是()
A.引线多B.散热好C.易插拔D.成本低
7.回流焊的峰值温度应()solder熔点
A.低于B.等于C.高于D.无关
8.封装中测试芯片功能的步骤是()
A.晶圆测试B.终测(FT)C.中间测试D.可靠性测试
9.湿热试验的典型条件是()
A.60℃/60%RHB.85℃/85%RHC.100℃/100%RHD.25℃/50%RH
10.键合机的核心参数不包括()
A.键合压力B.温度C.超声功率D.芯片尺寸
多项选择题
1.IC封装的功能包括()
A.电连接B.机械保护C.热管理D.信号完整性
2.常见的键合工艺有()
A.金线键合B.铝线键合C.铜线键合D.合金线键合
3.倒装芯片的优点有()
A.互连路径短B.高I/O密度C.散热性能好D.成本低
4.EMC的要求包括()
A.绝缘性B.耐热性C.低膨胀系数D.防潮性
5.WLP的类型有()
A.Fan-InWLPB.Fan-OutWLPC.QFPD.QFN
6.封装常见缺陷有()
A.虚焊B.气泡C.开裂D.芯片偏移
7.DieAttach的材料有()
A.银胶B.锡膏C.epoxyD.金线
8.回流焊温度曲线的阶段包括()
A.预热B.保温C.回流D.冷却
9.可靠性测试项目有()
A.温度循环B.湿热试验C.振动试验D.盐雾试验
10.封装关键步骤有()
A.DieAttachB.WireBondC.MoldingD.Singulation
判断题
1.金线键合成本高于铝线键合()
2.倒装芯片的凸点必须使用金()
3.EMC的热膨胀系数需与芯片匹配()
4.WLP尺寸比传统封装大()
5.QFN封装有外露引线()
6.回流焊峰值温度低于solder熔点()
7.银胶具有导热性()
8.超声功率越大,键合效果越好()
9.温度循环试验用于测试热应力()
10.封装后芯片无需测试()
简答题
1.简述IC封装工艺的主要步骤及作用。
2.倒装芯片相对于传统引线键合的优势是什么?
3.环氧树脂模塑料(EMC)在IC封装中的关键要求有哪些?
4.IC封装可靠性测试的主要目的是什么?
讨论题
1.如何优化金线键合的工艺良率?
2.IC封装向小型化、高I/O发展的挑战及应对措施?
---
答案
填空题
1.机械保护2.环氧树脂模塑料(EMC)3.铝线键合4.凸点(Bump)5.芯片贴装(DieAttach)6.WLP7.四方扁平封装8.焊料(solder)9.TC10.倒装(FlipChip)
单项选择题
1.A2.B3.B4.B5.A6.B7.C8.B9.B10.D
多项选择题
1.ABCD2.ABCD3.ABC4.ABCD5.AB6.ABCD7.ABC8.ABCD9.ABCD10.ABCD
判断题
1.对2.错3.对4.错5.错6.错7.对8.错9.对10.错
简答题
1.主要步骤及作用:①DieAttach(芯片贴装):固定芯片并传导热量;②WireBond(引线键合):实现芯片与基板的电连接;③Molding(塑封):用EMC包裹内部结构,提供机械保护和绝缘;④Singulation(分切):将整版封装体切割为单个芯片;⑤Test(测试):验证芯片功能和性能;⑥Packaging(包装):便于运输存储。
2.优势:①互连路径短,减少寄生电感/电容,提升信号完整性;②支持更高I/O密度,满足高速芯片需求;③散热好,热量通过凸点直接传导至基板;④封装尺寸小,符合小型化趋势。
3.关键要求:①绝缘性:防止内部电路短路;②耐热性:承受工艺和芯片工作高温;③低膨胀系数:与芯片、基板匹配,减少热应力开裂;④防潮性:阻止
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