静电放电抗扰度试验模型及其耦合效应仿真研究.pdf

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摘要

摘要

随着集成电路及微电子器件的普遍应用,敏感电子设备面临的静电放电

(ElectrostaticDischarge,ESD)损伤风险愈发凸显,ESD抗扰度试验作为电子设备

电磁兼容性(ElectromagneticCompatibility,EMC)测试的重要环节愈发受到重视。

针对电子设备实体ESD抗扰度试验存在效应分析难度大、故障定位速度慢、设

计整改成本高等问题,论文结合计算机三维仿真技术

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