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(新)带电设备红外诊断技术应用导则DLT664-1999(3篇)

第一篇：带电设备红外诊断技术基础与原理

红外诊断技术的基本概念

红外诊断技术是一种基于红外辐射原理的非接触式检测技术。一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量，其辐射能量的大小及其按波长的分布与物体表面温度有着十分密切的关系。通过对设备表面红外辐射能量的测量，便能准确地测定其表面温度，进而根据设备表面温度及温度分布情况来判断设备是否存在异常。

在电力系统中，带电设备在运行过程中会因电流效应、电压效应等产生发热现象。正常情况下，设备各部位的发热是相对稳定且符合一定规律的。当设备存在缺陷或故障时，其发热情况会发生变化，如局部温度升高、温度分布异常等。红外诊断技术就是利用红外热像仪等设备，捕捉设备表面的红外辐射信息，将其转换为热图像和温度数据，从而实现对设备状态的监测和诊断。

红外辐射的物理基础

红外辐射属于电磁波的范畴，其波长范围大致在0.76μm-1000μm之间，可分为近红外（0.76μm-3μm）、中红外（3μm-6μm）、远红外（6μm-15μm）和极远红外（15μm-1000μm）四个区域。在电力设备红外诊断中，常用的是中红外和远红外区域，因为这个波段的红外辐射受大气吸收和散射的影响较小，且大多数电力设备的热辐射主要集中在这个范围内。

根据普朗克定律，黑体的光谱辐射出射度与波长和温度之间存在着确定的函数关系。黑体是一种理想化的辐射体，它能够完全吸收和发射各种波长的辐射能量。实际物体的辐射特性与黑体有所不同，通常用发射率来描述实际物体与黑体辐射能力的差异。发射率是指实际物体的辐射出射度与同温度下黑体的辐射出射度之比，其值介于0和1之间。不同材料的发射率不同，在进行红外诊断时，需要准确测量或估计设备表面的发射率，以确保温度测量的准确性。

红外热像仪的工作原理

红外热像仪是红外诊断技术的核心设备，它主要由光学系统、红外探测器、信号处理电路和显示装置等部分组成。光学系统用于收集被测物体发出的红外辐射，并将其聚焦到红外探测器上。红外探测器是热像仪的关键部件，它能够将红外辐射转换为电信号。目前常用的红外探测器有光子探测器和热探测器两种类型。

光子探测器利用光子与半导体材料中的电子相互作用，产生光生载流子，从而实现对红外辐射的探测。光子探测器具有响应速度快、灵敏度高等优点，但需要在低温环境下工作，以降低热噪声的影响。热探测器则是基于热敏效应，通过测量探测器吸收红外辐射后温度的变化来实现对红外辐射的探测。热探测器不需要低温制冷，结构简单，成本较低，但响应速度相对较慢，灵敏度也较低。

信号处理电路对红外探测器输出的电信号进行放大、滤波、数字化等处理，然后根据普朗克定律和发射率等参数，计算出被测物体表面的温度分布，并将其转换为热图像。显示装置则将处理后的热图像显示出来，供操作人员进行观察和分析。

影响红外诊断准确性的因素

在实际应用中，有许多因素会影响红外诊断的准确性。环境因素是一个重要方面，如环境温度、湿度、风速、太阳辐射等。环境温度的变化会影响设备表面与环境的热交换，从而导致设备表面温度的测量误差。湿度和风速会影响大气对红外辐射的吸收和散射，降低热像仪的探测精度。太阳辐射会使设备表面温度升高，掩盖设备本身的发热缺陷，因此在进行红外诊断时，应尽量避免在阳光直射的情况下进行测量。

设备表面状况也会对红外诊断产生影响。设备表面的发射率不均匀、有污垢、油漆脱落等情况，会导致热像仪测量的温度不准确。此外，设备的运行状态，如负荷大小、运行时间等，也会影响设备的发热情况。在进行红外诊断时，应确保设备处于正常运行状态，并记录设备的负荷情况，以便对诊断结果进行准确分析。

第二篇：带电设备红外诊断的检测方法与流程

检测前的准备工作

在进行带电设备红外诊断之前，需要做好充分的准备工作。首先，要了解被测设备的基本信息，包括设备的类型、规格、运行参数、历史故障记录等。这些信息有助于操作人员对设备的正常发热情况有一个初步的了解，为后续的诊断分析提供参考。

对红外热像仪进行检查和校准是确保检测准确性的关键。检查热像仪的外观是否完好，电池电量是否充足，镜头是否清洁等。同时，要按照热像仪的使用说明书进行校准，确保热像仪的测量精度符合要求。此外，还需要准备好必要的辅助工具，如望远镜、测距仪等，以便在检测过程中准确确定设备的位置和距离。

制定详细的检测计划也是非常重要的。根据设备的分布情况和检测要求，合理安排检测路线和检测时间。确定检测的重点设备和部位，对于一些重要的、容易出现故障的设备，要进行重点检测。同时，要考虑到设备的运行状态和负荷情况，选择合适的检测时机，以确保检测结果能够真实反映设备的实际状况。

现场检测方法

在现场检测过程中，要选择合适的检测位