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量子芯片测试员岗位招聘考试试卷及答案

一、填空题(共10题,每题1分)

1.超导量子比特常用核心材料是__________。

2.量子态层析的英文缩写是__________。

3.量子比特纵向弛豫时间记为__________。

4.两量子比特纠缠度量的常用量是__________(举1例)。

5.量子态退相干的主要噪声类型是__________(举1例)。

6.量子芯片封装常用低温材料是__________(举1例)。

7.超导量子比特操控的微波频率量级是__________GHz。

8.量子门保真度测试方法是__________(举1例)。

9.拓扑量子比特核心特性是__________。

10.量子芯片测试的低温量级是__________mK。

二、单项选择题(共10题,每题2分)

1.超导量子比特属于:

A.连续变量B.离散变量C.混合变量D.经典比特

2.量子态层析(QST)目的是:

A.测量子比特数B.重构未知量子态C.算门速度D.检芯片缺陷

3.T1与T2的关系:

A.T1=T2B.T1T2C.T1T2D.无固定关系

4.量子芯片测试常用低温系统:

A.液氮B.液氦C.稀释制冷机D.空气制冷

5.贝尔不等式验证量子力学的:

A.定域性B.确定性C.线性D.叠加性

6.约瑟夫森结作用是:

A.线性响应B.非线性响应C.增强热传导D.减少干扰

7.量子门保真度范围:

A.0~1B.-1~1C.0~∞D.1~100

8.量子芯片测试温度低于:

A.1KB.10KC.100KD.300K

9.静态测试包括:

A.门操作B.态初始化C.纠缠产生D.态演化

10.量子纠缠必要条件:

A.距离近B.直积态C.非直积态D.频率相同

三、多项选择题(共10题,每题2分)

1.量子芯片测试核心内容:

A.态制备保真度B.门保真度C.纠缠特性D.比特寿命

2.超导量子比特常见类型:

A.TransmonB.FluxqubitC.PhasequbitD.硅量子点

3.测试常用信号源:

A.微波源B.脉冲源C.任意波形发生器D.直流电源

4.量子噪声来源:

A.热噪声B.退相干噪声C.控制噪声D.串扰噪声

5.QST基本步骤:

A.态初始化B.量子操控C.量子测量D.数据拟合

6.芯片封装考虑因素:

A.热管理B.电磁屏蔽C.机械稳定D.低温兼容

7.纠缠度量方法:

A.冯诺依曼熵B.ConcurrenceC.NegativityD.纠缠熵

8.量子比特操控技术:

A.微波脉冲B.磁通控制C.相位控制D.机械振动

9.低温技术:

A.稀释制冷B.脉冲管制冷C.绝热去磁D.液氮冷却

10.动态测试包括:

A.门操作B.态演化C.纠缠产生D.比特计数

四、判断题(共10题,每题2分)

1.T1越长,量子态保持能力越强。()

2.QST可重构任意未知量子态。()

3.贝尔不等式违反证明量子非定域性。()

4.拓扑量子比特抗局部噪声。()

5.测试无需考虑经典电路噪声。()

6.T2仅与热噪声有关。()

7.门保真度越高,计算准确性越高。()

8.稀释制冷机可到1mK以下。()

9.纠缠是量子计算核心资源。()

10.量子测量结果确定。()

五、简答题(共4题,每题5分)

1.简述超导量子比特T1、T2的物理意义及测试方法。

2.QST的主要作用及适用系统。

3.如何减少量子芯片测试中的串扰噪声?

4.拓扑量子比特与超导量子比特测试需求的主要区别。

六、讨论题(共2题,每题5分)

1.量子芯片测试为何需低温?选择稀释制冷机的原因?

2.如何平衡量子芯片测试的效率与准确性?结合场景说明。

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答案部分

一、填空题答案

1.铝/铌(答1种即可)

2.QST

3.T1

4.Concurrence/Negativity(答1种即可)

5.热噪声/退相干噪声(答1种即可)

6.氧化铝/硅(答1种即可)

7.10(1~100均可)

8.随机基准测试/层析测试(答1种即可)

9.拓扑保护(抗局部噪声)

10.10(1~100均可)

二、单项选择题答案

1.B2.B3.B4.C5.A6.B7.A8.A9.B10.C

三、多项选择题答案

1.ABCD2.ABC3.ABC4.ABCD5.ABCD6.ABCD7.ABCD8.ABC9.ABC10.ABC

四、判断题答案

1.√2.√3.√4.√5.×6.×7.√8.√9.√10.×

五、简答题答案

1.T1:激发态弛豫到基态的纵向时间,反映态保持能力;测试:初始化激发态→延迟→测布居数→拟合。T2:相干时间(相位保持);测试:Ramsey干涉法(π/2→延迟→π/2→测振荡衰减→拟合)。

2.作用:重构未知量子态密度矩阵,量化态保真度;适用:超导、硅量子点、离子阱等离散变量系统,及光量子等连续变量系统。

3.①优化芯

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