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基于通用计算机的阻变存储器性能测试系统的构建与应用研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在信息技术飞速发展的当下，数据存储需求呈爆发式增长，存储器技术的革新成为推动科技进步的关键力量。传统的存储器，如静态随机存取存储器（SRAM）和动态随机存取存储器（DRAM），虽在计算机体系中占据重要地位，但它们断电后数据丢失的易失性特点，限制了其在众多场景中的应用。磁性硬盘驱动器（HDD）虽为非易失性存储，但存在读写速度慢、体积大等弊端。闪存作为非易失性固态存储器，虽在移动电子设备中广泛应用，然而其尺寸微缩能力有限、写操作电压较高且可擦写次数有限、制作工艺复杂等缺点，难以满足未来对高性能存储器的需求。