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摘要
氮化铝(AlN)薄膜因其超宽禁带、高热导率和优异的压电性能,在航空航
天和电子电力等领域展现出广阔的应用前景,但其制备和应用仍面临诸多挑战。
晶格和热失配限制了在异质衬底上生长高质量全c轴取向AlN薄膜,成本昂贵
的单晶衬底难以大规模应用。此外,纯AlN薄膜的压电系数偏低,影响其在MEMS
器件中的性能。这些因素严重制约了本征AlN及AlScN薄膜的应用潜力。
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