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纤维光学互连器件和无源器件
基本试验和测量程序
第3-55部分:检查和测量偏振保持无源光学器件的偏振消光比和
键控精度
1范围
本文件描述了测量基于偏振保持光纤的单模偏振保持光学器件的偏振消光比(PER)的方法。本文
件提供了检测保持偏振器件主光轴输入输出方向以及评估键控精度的方法,即主光轴和连接器的机械基
准导向键位的角偏差。
2规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
ISO和IEC维护的用于标准化的术语数据库,网址如下:
——IEC电子百科
——ISO在线浏览平台
3.1
主偏振态principalstateofpolarisation
PSP
通过不均匀光介质传播不变的偏振态(SOP)
注:它也被称为“固有偏振”
3.2
偏振消光比polarisationextinctionratio
PER
主偏振态(PSP)沿着保偏器件传播时,沿正交方向分解的两个偏振分量的比值。
3.3缩略语
下列缩略语适用于本文件:
DUT:被测器件(DeviceUnderTest)
HWP:半波片(HalfWavePlate)
PER:偏振消光比(PolarisationExtinctionRatio)
1
PM:偏振保持(PolarisationMaintaining)
PSP:主偏振态(PrincipalStateofPolarisation)
QWP:1/4波片(QuarterWavePlate)
SLD:超发光二极管(SuperLuminescentDiode)
SMF:单模光纤(Single-ModeFibre)
SOP:偏振态(StateofPolarisation)
4总则
保偏器件是一个物理系统,当光通过它传播时,可以保持特定的输入SOP不变。在线性双折射系统
中,这些SOP对应于两个线性偏振(也称为PSP),其偏振方向平行于保偏器件的两个主光轴。
在理想情况下,保偏器件中两个主偏振态(PSPs)传播时互不干扰且不改变,但实际上二者可能存
在能量交互,导致偏离初始偏振态(SOP)。这种偏离理想特征的原因可以是:
a)内在的,归因于光波导材料结构的缺陷;
b)外部的,与施加在保偏器件或其某一组成部分位置的外部机械(应力)、电气或温度变化有关。
PM器件能保持其PSP的精确度由PER来量化。本文件定义了在线性双折射系统中,当非相干线偏振光
注入被测保偏器件(以下简称PM-DUT)时,两个标称主偏振态之间功率耦合的测量方法。
当PM器件由多个不同的保偏元件组成,各个元件在连接点上的光轴相互对准精度将对整个系统性能
产生重大影响。由于这些连接点经常使用光纤连接器,因此评估和确保光纤连接器基准键控的结构设计
能正确地对准封装光纤的主轴至关重要,以便主偏振态可以保持传播不变。本文还描述了测量角偏差的
方法,这些方法依赖于与偏振消光比性能测量所使用的相同的配置。
本文件给出了测量偏振消光比性能和键控精度的两种方法:无基准方法(方法A)和比较法(方法B)。
因为测量的PER值是基于两种不同的配置,在比较两种方法获得的结果时应加以区分。保偏光纤键控精
度的要求见附录B。
5测量原理
方法A和方法B都基于旋转偏振器测量程序,通过评估PM-DUT输出线偏振光沿着光学器件两个主轴方
向的功率之间的比值,评估一个线性双折射PM-DUT的保偏性能。
测量程序的必要条件是被测件的偏振响应保持不变,在测量过程中,偏振性能不受外部因素(电气、
机械、温度或其他如光纤和连接器的操作)的影响而改变。这一要求将旋转偏振器测量程序与另一种测
量方法区分开来,后者通过动态外部干预(机械或温度)和检测瞬时输出偏振态的演变来评估主偏振态
之间的功率耦合。后一种也称为“在线”检测法,由于试验条件和试验结果解释的差异,该方法与使用
旋转偏振器程序获得的结果相比,可能存在不同。
为了
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