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集成电路制造工艺
--CMOS结构及工作原理;第十章CMOS集成电路制造工艺;第十章CMOS集成电路制造工艺;§10.1CMOS反相器结构;5;P阱结构;特点:N沟道的器件是在P型衬底上制成,与标准的NMOS器件工艺兼容,P沟道晶体管同样会受过渡掺杂的影响。;特点:在轻掺杂的衬底中分别注入不同类型的杂质,可以对每个阱区的杂质分别独立地进行控制,优化N和P沟的器件性能;CMOS电路的隔离----LOCOS工艺;工艺特点:同时解决了器件隔离和寄生器件形成两个问题,当采用等平面氧化工艺时,可以获得近乎平坦的表面。
存在的问题:会有“鸟嘴”问题,会减小器件的有
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