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KDC-
生产用测试设备详细设计模板
□秘密□机密□绝密
PAGE
版权所有,侵权必究第PAGE5页共NUMPAGES10页
活动编号(ID):AME-80
项目阶段
□概念阶段
■开发阶段
□发布阶段
□计划阶段
□验证阶段
□生命周期阶段
产品名称
产品型号/版本
总页数
××××
××××
共××页
XXX生产测试设备详细设计
(仅供内部使用)
文件编号:
KDC-
版本号:
V0.1
实施日期:
yyyy-mm-dd
保密等级:
□秘密□机密□绝密
编制:
审核:
会签:
批准:
修订记录
日期
版本号
描述
作者
yyyy-mm-dd
0.1
初稿完成
范建根
yyyy-mm-dd
1.0
批准发布
×××
yyyy-mm-dd
1.1
修改×××
×××
yyyy-mm-dd
1.2
修改×××
×××
……
……
…..
……
yyyy-mm-dd
2.0
修改×××
×××
文件的版本号由“V×.×”组成,其中:
小数点前面的×为主版本号,取值范围为“0~9”。文件进行重大修订时主版本号递增1;
小数点后面的×为次版本号,取值为“0~9,a~z”。文件每修改一次时次版本号递增1;主版本号发生改变时,次版本号重新置0;
未批准发布的文件版本号为V0.×版,批准发布时为V1.0版。当主版本号发生改变时,前面只有次版本号不同的修订记录可以删除。
目录
TOC\o1-3\h\z1 背景 5
1.1 产品概述 5
1.2 产品运行环境说明 5
2 测试设备总体概述 5
3 单板测试设备 5
3.1 单板测试设备工作环境图 5
3.2 单板测试设备方案设计说明 5
3.3 单板测试设备硬件详细说明 5
3.4 单板测试设备功能单元划分 6
3.5 单元详细描述 6
3.5.1 单元1 6
3.5.2 单元2 6
3.6 单板测试设备硬件主要接口定义、与相关板的关系 7
3.6.1 系统接口 7
3.6.2 用户接口 7
3.6.3 监控接口 7
3.7 单板测试设备软件详细说明 7
3.8 单板测试设备散热说明 7
3.9 单板测试设备电源设计 7
3.10 单板测试设备结构装备示意图 8
4 整机测试设备 8
4.1 整机测试设备工作环境图 8
4.2 整机测试设备方案设计说明 8
4.3 整机测试设备硬件详细说明 8
4.4 测试设备功能单元划分 8
4.5 单元详细描述 8
4.5.1 单元1 9
4.5.2 单元2 9
4.6 整机测试设备硬件主要接口定义、与相关板的关系 9
4.6.1 系统接口 9
4.6.2 用户接口 9
4.6.3 监控接口 10
4.7 整机测试设备软件详细说明 10
4.8 整机测试设备散热说明 10
4.9 整机测试设备电源设计 10
4.10 整机测试设备结构装备示意图 10
背景
说明测试设备对应的被测硬件设备正式名称和版本号
产品概述
在本节中简要简述产品的功能
产品运行环境说明
简要说明产品所要运行的物理环境和逻辑环境、软件支持环境等
测试设备总体概述
根据生产测试和工艺总体方案中对生产测试设备的要求,对测试设备进行概要描述
下面分别对单板和整机测试设备进行设计描述,如果只涉及到单板或整机测试设备,则另一部分可以删除)
单板测试设备
单板测试设备工作环境图
对测试设备和被测设备的测试组网图进行描述,说明设备间如何进行连接,如何构建起完整的测试环境,用图示表示
请对功能、性能测试设备和老化测试设备分别进行描述
单板测试设备方案设计说明
对被测设备进行功能、性能测试的过程和方案进行说明,说明通过测试设备可以对被测设备进行哪些方面的测试,测试设备需要具备哪些前提条件才能对被测设备进行测试,并对测试的过程进行描述,说明测试的进程和验证的功能,性能点
如果需要老化测试设备,则应说明对老化测试设备的设计方案进行说明,说明老化设备的方式(动态,静态老化),老化的容量等说明,下面可以根据实际情况对功能、性能测试设备和老化测试设备分别进行详细设计说明
单板测试设备硬件详细说明
如果此测试设备可以借用现有的生产设备,则在此进行引用描述,下面的子章节则可以不进行描述
如果此测试设备可以借用现有的生产设备,则在此进行引用描述,下面的子章节则可以不进行描述
单板测试设备
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