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测控技术

.56.2024年第43卷第5期试验与测试

以太网物理层芯片光电特性测试研究

杨峰，许少尉，陈思宇

（航空工业西安航空计算技术研究所,陕西西安710000）

摘要：当前，以太网物理层芯片在诸多应用领域不可或缺，对以太网物理层芯片的功能性能要求也越来

越高，因此,如何进行芯片功能性能方面的光电特性验证是函待解决的问题。主要介绍了以太网物理层

芯片验证的技术现状，提出符合以太网物理层芯片功能性能应用需求的光电特性测试方法，采用测试仪

器（如示波器、逻辑分析仪、网络矢量分析仪等）和验证板卡对网络中物理接口的数据传输电特性和光

特性进行测试，测试结果表明提出的测试方法达到了测试要求，满足了功能性能应用需求，进而提高了

国产高可靠以太网物理层芯片验证的技术手段。

关键词：芯片验证；物理层芯片；光电特性验证

中图分类号：TP393.11;TN407文献标志码：A

doi:10.19708/j.ckjs.2024.05.006

TestandResearchofEthernetPhysicalLayerChipPhotoelectricCharacteristics

YANGFeng,XUShaowei,CHENSiyu

(AVICXianAeronauticsComputingTechniqueResearchInstitute,Xian710000,China)

Abstract:Atpresent,Ethernetphysicallayerchipisindispensableinthefieldofmanyapplications,andthe

functionalperformancerequirementsofEthernetphysicallayerchipisgettinghigherandhigher.Therefore,how

toverifythephotoelectriccharacteristicsofchipfunctionalperformanceisanurgentproblemtobesolved.The

technicalstatusofverificationofEthernetphysicallayerchipismainlyintroduced,andaphotoelectriccharac-

teristictestmethodthatmeetsthefunctionalperformanceapplicationrequirementsofEthernetphysicallayer

chipisputforward.Testinstruments(suchasoscilloscope,logicanalyzer,networkvectoranalyzer,etc.)and

verificationboardareusedtotesttheelectricalandopticalcharacteristicsofdatatransmissionofphysicalinter-

facesinthenetwork.Thetestresultsshowthattheproposedtestmethodmeetsthetestrequirements,meetsthe

applicationrequirementsoffunctionalperformance,andthenimprovesthetechnicalmeansofdomestichighre-

liabilityEt