CN115868986B 基于传感器物理特性的标定方法 （上海移宇科技股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN115868986B(45)授权公告日2025.07.01

(21)申请号202210113852.6

(22)申请日2022.01.30

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN115868986A

(43)申请公布日2023.03.31

(66)本国优先权数据

PCT/CN2021/1208562021.09.27CN

(51)Int.CI.

A61B5/1486(2006.01)A61B5/00(2006.01)

(56)对比文件

CN110208352A,2019.09.06审查员罗文凤

(73)专利权人上海移宇科技股份有限公司

地址201203上海市浦东新区中国(上海)

自由贸易试验区牛顿路200号8号楼7

楼F座

(72)发明人杨翠军

(74)专利代理机构上海光华专利事务所(普通合伙)31219

专利代理师陈珊珊权利要求书2页说明书14页附图13页

(54)发明名称

基于传感器物理特性的标定方法

(57)摘要

CN115868986B本发明公开了一种传感器标定方法，在生产前对批量传感器进行测试，得到汇总数据对集，通过对汇总数据对集进行归类划分得到典型数据对集，并存储到计算机内，在生产时，对待出厂传感器测试少量数据对，将少量数据对输入到计算机，通过计算得到与少量数据对最接近的典型数据对集，以及数据对与最接近的典型数据对集间的差值，基于差值对典型数据对集进行调整，该调整后的典型数据对集即可作为待出厂传感器的先验数据对集使用，不再需要预设的先验校准函数，提高了传感器标定效率，减少了生产时间，同时减小了因传感器物理特性差异造成的传

CN115868986B

对批量传感器进行测试

对批量传感器进行测试对待出厂的传感器进行测试，

获取z个数据对对(u帚.f(un)

得到至少j个典型数据对集

将z个数据对分别与j个典型数据对集进行对比，获取最接近

的典型数据对集D?

将测试数据与典型数据对集D进行对比，是否存在固定差值或者

线性差值

no

数据对集D输入到存储器数据对集D输入到存储器

对数据对集D{进行调整，

得到调整后的数据对集Dk

yes

CN115868986B权利要求书1/2页

2

1.一种传感器标定方法，其特征在于，包括：提供

批量传感器，对所述批量传感器进行测试以获取包括第一参数值和第二参数值的批量数据对集(xn,f(xn)),对所述批量数据对集基于所述第一参数值进行汇总，得到汇总数据对集D1,i为传感器的数量：

将所述汇总数据对集D1进行归类划分，得到j个典型数据对集D:

计算机，所述计算机存储所述j个典型数据对集；和

待出厂传感器，对所述待出厂传感器进行测试，获取z个数据对(un,f(xn));

所述计算机还用于获取与所述z个数据对最接近的典型数据对集D?,以及计算所述z个数据对与所述典型数据对集D2间的差值，所述差值由所述待出厂传感器的物理特性差异产生，并基于所述差值对所述典型数据对集D进行调整，得到调整后的典型数据对集Dzk;

将所述调整后的典型数据对集输入到所述待出厂传感器对应的存储器内，作为待出厂传感器的先验数据对集。

2.根据权利要求1所述的传感器标定方法，其特征在于，所述典型数据对集D3由所述汇总数据对集D1按照多次留出法或者交叉验证法进行归类划分得到。

3.根据权利要求1所述的传感器标定方法，其特征在于，所述计算机分别计算所述z个数据对的第一参数值uπ与每个所述典型数据对集的第一测试参数值xn的差值平方和，得到最小值对应的典型数据对集即为与所述z个数据对最接近的典型数据对集D2。

4.根据权利要求3所述的传感器标定方法，其特征在于，所述z个数据对是随机分布的。

5.根据权利要求3所述的传感器标定方法，其特征在于，所述z个数据对是等距分布的。

6.根据权利要求1所述的传感器标定方法，其特征在于，所述第一参数值为电流值或电

压值。

7.根据权利要求1所述的传感器标定方法，其特征在于，所述第二参数值至少包括血糖浓度值。

8.根据权利要求1所述的传感器标定方法，其特征在于，所述批量数据对集或所述z个数据对至少部分的来自于体外测试。

9.根据权利要求1所述的传感器