WO2025139960A1 图像检测方法、装置、电子设备及存储介质 （苏州镁伽科技有限公司）.docxVIP

(12)按照专利合作条约所公布的国际申请

(19)世界知识产权组织国际局

(43)国际公布日

2025年7月3日(03.07.2025)

WIPOIPCT

(10)国际公布号

WO2025/139960A1

(51)国际专利分类号：G06T7/00(2017.01)

(51)国际专利分类号：

(21)国际申请号：PCT/CN2024/140303

(22)国际申请日：2024年12月18日(18.12.2024)

(25)申请语言：中文

(26)公布语言：中文

(30)优先权：

202311811816.82023年12月27日(27.12.2023)CN

(71)申请人：苏州镁伽科技有限公司(SUZHOU

MEGAROBOTECHNOLOGIESCO.,LTD.)[CN/CN];中国江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区玲珑街88号215000(CN)。

(72)发明人：徐海俊(XU,Haijun);中国江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区玲珑街88号215000(CN)。韩晓(HAN,Xiao);中国江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区玲珑街88号215000(CN)。

(74)代理人：北京集佳知识产权代理有限公司(UNITALENATTORNEYSATLAWCO,LTD.);中国北京市朝阳区建国门外大街22号赛特广场七层100004(CN)。

(81)指定国(除另有指明，要求每一种可提供的国家保护):AE,AG,AL,AM,AO,AT,AU,AZ,BA,BB,BG,

BH,BN,BR,BW,BY,BZ,CA,CH,CL,CN,CO,CR,CU,

CV,CZ,DE,DJ,DK,DM,DO,DZ,EC,EE,EG,ES,FI,

GB,GD,GE,GH,GM,GT,HN,HR,HU,ID,IL,IN,IQ,

IR,IS,IT,JM,JO,JP,KE,KG,KH,KN,KP,KR,KW,KZ,

LA,LC,LK,LR,LS,LU,LY,MA,MD,MG,MK,MN,

WO2025/139660A1

WO2025/139660A1

(54)Title:IMAGEDETECTIONMETHODANDAPPARATUS,ELECTRONICDEVICE,ANDSTORAGEMEDIUM

(54)发明名称：图像检测方法、装置、电子设备及存储介质

100

获取待检测图像

获取待检测图像

利用领设缺陷检测算法对待检测图像进行缺陷检测

,以确定第一缺陷检测结果，其中，第一缺陷检测

结果包括待检测图像中的缺陷区域的位置信息

基于第一缺路检测结果从待检测图像中获取无缺陷图像

利用无缺陷图像对缺陷检测模型进行训练，以获取

经制练的缺陷检测模型

至少利用经训练的缺陷检测模型对目标图像进行缺

陷检测，以确定第二缺陷检测结果，其中，第二缺

陷检测结果包括目标图像中的缺陷区城的位置信息

,目标图像为待检测图像或基于第一缺陷检测结果

从待检测图像中获取的有缺陷图像

S110

S120

S130

S140

S150

图1

S110Acquireanimagetobedetected

S120Usingapresetdefectdetectionalgorithm,performdefectdetectionontheimage,soastodetermineafirstdefectdetectionresult,thefirstdefect

detectionresultcomprisingpositioninformationofadefectareaintheimagetobedetected

S130Basedonthefirstdefectdetectionresult,acquireadefect-freeimagefromtheimagetobedetected

S140Usethedefect-freeimagetotrainadefectd