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2026年通信设备测试员面试问题集及答案解析

一、单选题（共10题，每题2分）

考察内容：通信基础理论、测试工具使用、故障排查

1.题干：在5GNR通信系统中，用于承载低时延、低功耗业务的关键技术是？

A.MassiveMIMO

B.波束赋形

C.NB-IoT

D.网络切片

答案：C

解析：NB-IoT（窄带物联网）专为低功耗、低速率场景设计，适用于物联网设备，而5GMassiveMIMO和波束赋形主要用于提升频谱效率，网络切片则用于差异化服务，非低功耗场景。

2.题干：测试光模块时，若光功率计显示“OLTFER”错误，可能的原因是？

A.光模块未插紧

B.光模块损坏

C.光路损耗过大

D.波长不匹配

答案：C

解析：“OLTFER”通常表示光传输失败，常见于光路损耗超出阈值，需检查光纤连接或中继器性能。

3.题干：Wi-Fi6（802.11ax）相比Wi-Fi5的主要改进是？

A.提升了2.4GHz频段容量

B.增加了2KMHz频段

C.支持多用户MU-MIMO

D.降低了传输距离

答案：C

解析：Wi-Fi6的核心创新是MU-MIMO（多用户并发传输），可同时服务多个设备，而Wi-Fi5仅支持单用户MU-MIMO。

4.题干：测试基站天线时，若方向图显示主瓣过宽，可能的原因是？

A.天线增益过高

B.天线安装角度错误

C.频率漂移

D.功放模块故障

答案：B

解析：主瓣过宽通常由安装角度偏差导致，需重新调整天线方位。

5.题干：使用BERT表测试光纤熔接时，熔接损耗过大可能的原因是？

A.光纤端面脏污

B.熔接机参数设置错误

C.光纤弯曲半径过小

D.以上都是

答案：D

解析：熔接损耗受端面清洁度、参数设置、弯曲半径等多因素影响，需逐一排查。

6.题干：测试5G基站时，若发现PCI-RSRP值异常低，可能的原因是？

A.基站发射功率不足

B.用户终端天线损坏

C.干扰信号过强

D.以上都是

答案：D

解析：PCI-RSRP低可能由发射功率、终端天线或干扰导致，需综合分析。

7.题干：测试LTE网络时，若发现切换成功率低，可能的原因是？

A.小区重叠覆盖不足

B.同频干扰

C.基站时钟同步误差

D.以上都是

答案：D

解析：切换失败可能由覆盖盲区、干扰或同步问题导致，需现场勘查确认。

8.题干：使用BERT表测试光模块时，若显示“LOF”错误，表示？

A.光模块过热

B.光路中断

C.激光器老化

D.信号过载

答案：B

解析：“LOF”即光路失效，常见于光纤连接断开或熔接不良。

9.题干：测试Wi-Fi6网络时，若发现用户密度大时性能下降，可能的原因是？

A.调制方式过低

B.信道竞争严重

C.路由器散热不足

D.以上都是

答案：B

解析：高密度场景下信道干扰会加剧，需优化信道分配或采用5GHz频段。

10.题干：测试光纤熔接时，若熔接点出现“毛刺”现象，可能的原因是？

A.熔接机电流过大

B.端面倾斜

C.光纤弯曲过度

D.以上都是

答案：D

解析：“毛刺”可能由熔接参数、端面质量或光纤应力导致，需调整参数并清洁端面。

二、多选题（共8题，每题3分）

考察内容：综合故障排查、测试流程规范

1.题干：测试5G基站时，影响信号覆盖的因素包括？

A.基站发射功率

B.天线高度

C.频率干扰

D.光纤衰减

答案：ABCD

解析：信号覆盖受功率、天线、干扰、传输链路等多因素影响。

2.题干：测试Wi-Fi6网络时，提升性能的方法包括？

A.增加信道带宽

B.启用OFDMA技术

C.降低传输功率

D.使用高增益天线

答案：ABD

解析：OFDMA、高带宽、高增益天线均能提升性能，降低功率反而不利于覆盖。

3.题干：测试光纤熔接时，需检查的项目包括？

A.熔接损耗

B.胶带固定情况

C.光纤弯曲半径

D.端面清洁度

答案：ACD

解析：熔接质量需关注损耗、端面质量，但胶带固定不属于熔接本身范畴。

4.题干：测试LTE网络切换时，需排查的故障点包括？

A.小区重选参数

B.基站时间同步

C.干扰信号

D.信号强度不足

答案：ABCD

解析：切换失败需检查参数、同步、干扰及信号覆盖。

5.题干：测试光模块时，若显示“LOS”错误，可能的原因是？

A.光纤连接断开

B.接口污染

C.供电异常

D.波长失配

答案：ABD

解析：“LOS”即光丢失，常见于物理连接、波长或供电问题，供电异常较少见。

6.题干：测试基站天线时，需验证的指标包括？

A.方向图

B.增益

C.杂散辐射

D.驻波比

答案：ABC

解析：天线测试核心指