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高速CAM抗软错误设计与实现：技术、方法与应用

一、引言

1.1研究背景与意义

随着电子器件的应用场景不断拓展，如在航空航天、汽车电子、工业控制等关键领域的广泛应用，对其可靠性和稳定性提出了极高的要求。与此同时，半导体工艺尺寸持续减小，虽然带来了更高的集成度和性能提升，但也使得电子器件更容易受到软错误的影响。在高速内容可寻址存储器（ContentAddressableMemory，CAM）中，软错误问题日益凸显。高速CAM作为一种能够根据存储内容快速进行数据检索的存储器，在现代高速数据处理系统中扮演着至关重要的角色，其可靠性直接关系到整个系统的性能和稳定性。

软错误是指由高能粒子（如