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应变片的温度误差及补偿

1.应变片的温度误差

由于测量现场环境温度的改变而给测量带来的附加误差,称为应变片的温度误差。产生应变片温度误差的主要因素有:

1)电阻温度系数的影响

敏感栅的电阻丝阻值随温度变化的关系可用下式表示：

Rt=R0（1+α0Δt）(3-14)

式中:Rt——温度为t℃时的电阻值;

R0——温度为t0℃时的电阻值;

α0——金属丝的电阻温度系数;

Δt——温度变化值,Δt=t-t0。

当温度变化Δt时,电阻丝电阻的变化值为

ΔRt=Rt-R0=R0α0Δt（3-15）

2)试件材料和电阻丝材料的线膨胀系数的影响

当试件与电阻丝材料的线膨胀系数相同时,不论环境温度如何变化,电阻丝的变形仍和自由状态一样,不会产生附加变形。当试件和电阻丝线膨胀系数不同时,由于环境温度的变化,电阻丝会产生附加变形,从而产生附加电阻。

设电阻丝和试件在温度为0℃

Ls=L0（1+βsΔt）（3-16）

Lg=L0（1+βgΔt）（3-17）

当二者粘贴在一起时,电阻丝产生的附加变形ΔL,附加应变εβ和附加电阻变化ΔRβ分别为

ΔL=Lg-Ls=（βg-βs）L0Δt(3-18)

εβ=ΔLL0=（βg-βs）Δt(3-19)

ΔRβ=K0R0εβ=K0R0(βg-βs)Δt(3-20)

由式（3-15）和式（3-20）,可得由于温度变化而引起应变片总电阻相对变化量为

折合成附加应变量或虚假的应变εt,有

由式（3-21）和式（3-22）可知,因环境温度变化而引起的附加电阻的相对变化量,除了与环境温度有关外,还与应变片自身的性能参数（K0，α0，βs）以及被测试件线膨胀系数βg有关。

2.电阻应变片的温度补偿方法

电阻应变片的温度补偿方法通常有线路补偿法和应变片自补偿两大类。

1)线路补偿法

一、电阻应变片的种类

电阻应变片品种繁多,形式多样。但常用的应变片可分为两类:金属电阻应变片和半导体电阻应变片。

金属应变片由敏感栅、基片、覆盖层和引线等部分组成,如图3-2所示。

敏感栅是应变片的核心部分,它粘贴在绝缘的基片上,其上再粘贴起保护作用的覆盖层,两端焊接引出导线。金属电阻应变片的敏感栅有丝式、箔式和薄膜式三种。

图3-2金属电阻应变片的结构

箔式应变片是利用光刻、腐蚀等工艺制成的一种很薄的金属箔栅,其厚度一般在0.003～0.01mm。其优点是散热条件好,允许通过的电流较大,可制成各种所需的形状,便于批量生产。薄膜应变片是采用真空蒸发或真空沉淀等方法在薄的绝缘基片上形成0.1μm以下的金属电阻薄膜的敏感栅,最后再加上保护层。它的优点是应变灵敏度系数大,允许电流密度大,工作范围广。

半导体应变片是用半导体材料制成的,其工作原理是基于半导体材料的压阻效应。所谓压阻效应，是指半导体材料在某一轴向受外力作用时,其电阻率ρ发生变化的现象。

半导体应变片受轴向力作用时,其电阻相对变化为

（3-10）

式中Δρ/ρ为半导体应变片的电阻率相对变化量,其值与半导体敏感元件在轴向所受的应变力关系为

（3-11）

式中:π——半导体材料的压阻系数。

将式（3-11）代入式（3-10）中得

（3-12）

实验证明,πE比（1+2μ）大上百倍,所以（1+2μ）可以忽略,因而半导体应变片的灵敏系数为

Ks=（3-13）

半导体应变片突出优点是灵敏度高,比金属丝式高50～80倍,尺寸小,横向效应小,动态响应好。但它有温度系数大,应变时非线性比较严重等缺点。