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2025年（微电子科学与工程）芯片测试技术试题及答案

分为第I卷（选择题）和第Ⅱ卷（非选择题）两部分，满分100分，考试时间90分钟。

第I卷（选择题共40分）

答题要求：请将正确答案的序号填在括号内。

一、单项选择题（总共10题，每题2分）

1.芯片测试中，用于检测芯片逻辑功能是否正确的测试是（）

A.直流参数测试B.交流参数测试C.功能测试D.可靠性测试

答案：C

2.以下哪种测试方法可以检测芯片内部电路的短路情况（）

A.电压测试B.电流测试C.电阻测试D.电容测试

答案：B

3.芯片测试时，对于高速芯片，重点关注的参数是（）

A.功耗B.工作频率C.封装尺寸D.引脚数量

答案：B

4.测试芯片的输入输出特性时，主要测量的参数不包括（）

A.驱动能力B.扇入扇出C.阈值电压D.输入输出电平

答案：C

5.芯片测试中，用于评估芯片在不同环境条件下性能的测试是（）

A.温度循环测试B.功能测试C.直流参数测试D.交流参数测试

答案：A

6.检测芯片内部晶体管的性能通常采用（）

A.逻辑测试B.器件特性测试C.功能测试D.可靠性测试

答案：B

7.芯片测试流程中，首先进行的是（）

A.预处理B.测试执行C.结果分析D.报告生成

答案：A

8.对于数字芯片，其测试向量主要用于（）

A.功能测试B.功耗测试C.温度测试D.电磁兼容性测试

答案：A

9.芯片测试中，判断芯片是否合格的依据是（）

A.测试结果是否符合规格书B.测试时间长短C.测试设备品牌D.测试人员经验

答案：A

10.以下哪种测试属于芯片的物理缺陷检测（）

A.光学显微镜检测B.功能测试C.直流参数测试D.交流参数测试

答案：A

二、多项选择题（总共10题，每题2分）

1.芯片测试的主要目的包括（）

A.验证芯片功能B.检测芯片性能C.发现芯片缺陷D.评估芯片可靠性

答案：ABCD

2.芯片测试中常用的测试设备有（）

A.示波器B.逻辑分析仪C.频谱分析仪D.万用表

答案：ABCD

3.数字芯片测试的内容包括（）

A.逻辑功能测试B.时序测试C.功耗测试D.噪声容限测试

答案：ABCD

4.模拟芯片测试的重点参数有（）

A.增益B.带宽C.失调电压D.线性度

答案：ABCD

5.芯片测试流程中的预处理步骤可能包括（）

A.芯片清洗B.芯片安装C.加电初始化D.测试环境设置

答案：ABCD

6.芯片的可靠性测试包含（）

A.高温老化测试B.低温测试C.湿度测试D.振动测试

答案：ABCD

7.芯片测试中，对于测试向量的要求有（）

A.覆盖所有功能B.具有代表性C.可检测常见缺陷D.易于生成

答案：ABCD

8.芯片测试结果分析时，可能需要关注的内容有（）

A.测试数据的准确性B.测试结果的一致性C.异常数据的原因D.与规格书的偏差

答案：ABCD

9.芯片测试报告应包含的信息有（）

A.芯片型号B.测试项目C.测试结果D.测试结论

答案：ABCD

10.芯片测试技术不断发展，新的测试技术包括（）

A.基于机器学习的测试B.3D芯片测试技术C.片上自测试技术D.量子芯片测试技术

答案：ABCD

三、判断题（总共4题，每题5分）

1.芯片测试只需关注芯片的功能是否正确，性能和可靠性不重要。（×）

2.所有芯片测试都需要使用相同的测试设备和方法。（×）

3.芯片测试向量一旦确定就不能更改。（×）

4.芯片测试结果不符合规格书一定意味着芯片不合格。（×）

第Ⅱ卷（非选择题共60分）

四、填空题（总共10题，每题2分）

1.芯片测试的基本流程包括预处理、____、结果分析和报告生成。

答案：测试执行

2.功能测试主要通过输入____来验证芯片逻辑功能。

答案：测试向量

3.在芯片测试中，____测试用于检测芯片内部电路的开路情况。

答案：电压

4.对于模拟芯片，____是衡量其对微弱信号放大能力的重要参数。

答案：增益

5.芯片测试中的____测试可以评估芯片在不同温度下的性能变化。

答案：温度特性

6.数字芯片的____测试用于确保芯片在规定时间内完成逻辑操作。

答案：时