CN116298731B 基于宇称-时间反演对称的gis局部放电检测装置及方法 (东南大学).docxVIP

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CN116298731B 基于宇称-时间反演对称的gis局部放电检测装置及方法 (东南大学).docx

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN116298731B(45)授权公告日2025.07.11

(21)申请号202310362946.1

(22)申请日2023.04.07

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN116298731A

(43)申请公布日2023.06.23

(73)专利权人东南大学

地址211189江苏省南京市江宁区东南大

学路2号

(72)发明人董蕾郭世琦王立峰

(74)专利代理机构南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙)32249

专利代理师许海洲

(51)Int.CI.

(56)对比文件

CN114878989A,2022.08.09JPA,1989.05.29审查员候旭

G01R31/12(2020.01)

权利要求书1页说明书3页附图1页

(54)发明名称

基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置及方法

(57)摘要

CN116298731B本发明提供基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置及方法,该装置包括:LC传感器与读出电路两部分,其中LC传感器由添加电荷吸附材料的平行板电容、电感线圈和电阻并联组成。其中LC传感器与读出电路通过电感耦合进行能量耦合和信号传输。调节读出电路的电感、电容以及负电阻参数,使得LC传感器与读出电路处于PT对称奇异点位置,当GIS内部发生局部放电时,空间内电荷增加,电容极板上的电荷吸附材料吸附电荷,电容两极板间静电力增加,使得电容两极板间距发生变化,传感器电容发生变化,出现频率分裂现象,读出电路系统检测到系统频率分裂即可检测GIS内部局部放电现象的发生。

CN116298731B

CN116298731B权利要求书1/1页

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1.一种基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置的检测方法,其特征在于,装置包括:LC传感器和读出电路;

所述读出电路包括信号分析仪、可调电容、读出电感线圈和负电阻,且所述信号分析仪、可调电容、读出电感线圈和负电阻并联;

所述LC传感器包括传感器电感线圈、平行板电容和电阻,且所述传感器电感线圈、平行板电容和电阻并联;

所述LC传感器与所述读出电路通过电感耦合进行能量耦合和信号传输;

检测方法包括以下步骤:

步骤1:调节读出电路的可调电容和负电阻使系统处于PT对称奇异点状态;

步骤2:当气体绝缘变设备GIS金属腔体内部发生局部放电时,空间电荷量增加,电荷吸附材料吸附电荷,所述平行板电容的两极板间静电力增加,使得平行板电容的两极板的间距发生变化,LC传感器的平行板电容值改变,LC传感器的电容值变化相当于对系统施加一个微扰,引起系统频率分裂;

步骤3:读出电路通过读出电感线圈和传感器电感线圈的电感耦合进行信号传输;

步骤4:信号分析仪对系统的频率分裂进行检测,从而检测到局部放电现象的发生。

2.根据权利要求1所述基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置的检测方法,其特征在于,所述平行板电容的上极板添加电荷吸附材料。

3.根据权利要求1所述基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置的检测方法,其特征在于,所述LC传感器安装在气体绝缘变设备GIS金属腔体内部,所述读出电路安装在气体绝缘变设备GIS金属腔体外部。

4.根据权利要求1所述基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置的检测方法,其特征在于,通过调节读出电路的可调电容和负电阻使系统满足PT对称奇异点条件,其中系统包括所述LC传感器与所述读出电路。

5.根据权利要求2所述基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置的检测方法,其特征在于,当气体绝缘变设备GIS金属腔体内部发生局部放电时,空间内电荷增加,电荷吸附材料吸附电荷,所述平行板电容的两极板间静电力增加,使得平行板电容的两极板的间距发生变化,LC传感器的平行板电容发生变化,出现频率分裂,读出电路检测到系统频率分裂即气体绝缘变设备GIS金属腔体内部发生局部放电现象。

CN116298731B说明书1/3页

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基于宇称-时间反演对称的GIS局部放电检测装置及方法

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