2026—2027年半导体芯片老化与寿命加速测试设备及服务保障产品长期可靠性获汽车与工业客户质量体系强制要求投资.pptxVIP

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目录

一、预见未来：解码2026-2027年汽车与工业质量体系强制要求下芯片可靠性投资的战略必然性与紧迫性深度剖析

二、基石为纲：深入解析半导体芯片老化测试与加速寿命试验的核心原理、关键设备构成及技术演进趋势专家视角

三、服务赋能：超越硬件——论一体化、全生命周期的可靠性测试服务保障体系如何成为客户质量合规的核心支柱

四、标准之踵：系统梳理与解读AEC-Q系列、ISO26262、IATF16949等强制质量体系对芯片老化与寿命测试的具体条款与认证难点

五、场景深潜：从车载ECU到工业机器人——不同极端应用场景下芯片失效模式分析与定制化加速测试方案设计指南

六、数据为王：