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集成电路动态特性时域参数测试的深入探究与实践

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子产业中，集成电路作为核心部件，广泛应用于通信、计算机、消费电子、汽车电子、航空航天等众多领域，成为推动信息技术发展和产业变革的关键力量。从智能手机、平板电脑到高性能计算机，从物联网设备、智能穿戴产品到自动驾驶汽车，集成电路无处不在，它不仅决定了电子设备的性能和功能，还深刻影响着人们的生活方式和社会的发展进程。

随着科技的飞速发展，对集成电路的性能要求也日益提高。为了确保集成电路在实际应用中的正常运行，必须对其各项性能进行准确可靠的测试。其中，时域参数测试作为集成电路测试中的重要方法，能够有效评估集成电路的