HIS 海思半导体 技术手册 第三届(2021)集成电路EDA设计精英挑战赛 说明书用户手册.pdf

HIS 海思半导体 技术手册 第三届(2021)集成电路EDA设计精英挑战赛 说明书用户手册.pdf

第三届(2021)集成电路EDA设计精英挑战赛

赛题指南

一、赛题一:时序逻辑的高性能ATPG技术

二、命题企业:海思半导体有限公司

三、赛题Chair:姚海龙清华大学副教授CCF集成电路设计专业组常务委

四、赛题背景:

在VLSI电路的设计过程中,DFT是保证回片测试质量的重要手段,TPG(Test

PatternGeneration)是其中一个重要的环节。

ATPG(AutomaticTestPatternGeneration)

您可能关注的文档

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档