深度解析(2026)《YST 1164-2016硅材料用高纯石英制品中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法》.pptxVIP

;

目录

一、从标准看产业：为何高纯石英杂质检测是半导体与光伏产业链的“守门人”？专家视角下的战略价值深度剖析

二、追根溯源：YS/T1164-2016标准诞生背景与核心使命解读——为“硅材料用高纯石英”建立专属检测标尺

三、从样品到数据：前处理流程的“魔鬼在细节”——专家详解样品消解、试剂选择与污染防控的黄金法则

四、仪器核心之战：如何驾驭电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES）获得超高精度与稳定性？深度操作解析与参数优化指南

五、元素“指纹”捕获术：标准中杂质元素谱线选择、干扰校正与背景扣除策略的深度技术剖析

六、校准曲线的艺术与科学：从标准物质（RM/CRM）选择到线性