深度解析(2026)《YST 1344.3-2020掺锡氧化铟粉化学分析方法 第3部分：物相分析 X射线衍射分析法》.pptxVIP

;

目录

一、YS/T1344.3-2020标准重磅出台：为何物相分析成为高纯ITO靶材产业链质控的“定盘星”？

二、从粉末到屏幕：揭秘X射线衍射分析法如何精准透视掺锡氧化铟粉的微观晶体世界

三、标准文本深度拆解：逐条剖析样品制备、仪器条件与测量程序的规范密码

四、专家视角解读：标准中衍射图谱解析、物相定性及半定量分析的核心技术要点

五、误差来源深度剖析：如何规避样品择优取向、粒度效应与仪器漂移带来的分析陷阱

六、标准方法的验证与确认：论精密度、正确度及方法检出限在确保数据权威性中的核心作用

七、超越单一方法：探讨XRD与XRF、SEM/EDS联用技术在ITO粉体