CN117451015A 一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法 （包头钢铁（集团）有限责任公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117451015A(43)申请公布日2024.01.26

(21)申请号202311166035.8

(22)申请日2023.09.11

(71)申请人包头钢铁(集团)有限责任公司

地址014010内蒙古自治区包头市昆区河

西工业区

(72)发明人苏保全王丽娜刘芳

(74)专利代理机构北京律远专利代理事务所(普通合伙)11574

专利代理师崔惠英

(51)Int.CI.

GO1C

GO1C

GO1B

G01S

G01S

15/00(2006.01)

15/08(2006.01)

11/16(2006.01)

17/00(2020.01)

17/66(2006.01)

权利要求书1页说明书3页附图2页

(54)发明名称

一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法

(57)摘要

CN117451015A本发明公开了一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，包括：设备、接触面、落尘孔、塞子、基准孔；该基准点设置在设备本体上，并在设备出厂前将基准点加工在设备本体上；该简易基准点主要包括塞子和基准孔两部分。基准孔主要包括接触面和落尘孔，接触面用来配合激光跟踪仪靶球使用，接触面是精密加工部位，其精度要求在0.2mm范围内。落尘孔用来提高接触面的检测精度，当有灰尘落于接触面上时，通过旋转靶球使得灰尘落于落尘孔中，从而提高接触面的精度；为了做好基准点接触面的保护工作，防止其磨损或者生锈，设计了塞子，

CN117451015A

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CN117451015A权利要求书1/1页

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1.一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：包括：设备(1)、接触面(2)、落尘孔(3)、基准孔(5);

所述简易基准点设置在所述设备(1)的本体上，并在所述设备(1)出厂前将所述简易基准点加工在所述设备(1)的本体上；

所述简易基准点主要包括所述塞子(4)和所述基准孔(5);

所述基准孔(5)主要包括所述接触面(2)和所述落尘孔(3),所述接触面(2)用来配合激光跟踪仪靶球使用，所述落尘孔(3)用来提高所述接触面(2)的检测精度，当有灰尘落于所述接触面(2)上时，通过旋转靶球使得灰尘落于所述落尘孔(3)中，从而提高所述接触面(2)的精度。

2.根据权利要求1所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：所述接触面(2)是精密加工部位，其精度要求在0.2mm范围内。

3.根据权利要求1所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：还包括塞子(4),用于与所述基准孔(5)适配。

4.根据权利要求3所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：在日常不进行检测作业时将所述接触面(2)表面涂抹一层胶水，并将所述塞子(4)塞在基准孔(5)中。

CN117451015A说明书1/3页

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一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法

技术领域

[0001]本发明涉及工业测量技术领域，尤其涉及一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法。

背景技术

[0002]目前大型设备变形分析主要依赖于设备上的相对尺寸和施工时预留基准点进行。如论文《大型精密工业设备变形量检测方法研究》描述的方法，采用设备相对基准进行时，设备经过多年运行后基准存在不同程度的变形、磨损和腐蚀，以这些部位作为相对基准做变形、磨损分析时，其准确度较差。如专利《一种适用于激光跟踪仪SMR反射靶球的基座装置》和《一种多功能中心标板》描述的方法，当以施工时预留控制点作为基准进行时，控制点的本身精度很难达到或者超过1mm,设备变形测量的精度要求经常高于1mm,而且经过多年运行后由于地基下沉、热胀冷缩、后期施工等影响会造成基准点移动，所以使用施工时预留控制点作为基准的方法不满足大多数设备变形测量的要求。

[0003]对比资料1(申请号CN201020585493.7):一种多功能中心标板，属于全站仪进行测量定位技术领域。主体分为上、下两部分，分别为基座和可调基准盘，基座上方有滑槽，可调基准盘上方有