碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiC MOSFET)试验方法 第4部分:高温反偏.docx

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《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(SiCMOSFET)试验方法第4部分:高温反偏》标准立项与发展研究报告

EnglishTitle:ResearchReportontheStandardizationDevelopmentof“TestMethodsforSiliconCarbideMetal-Oxide-SemiconductorField-EffectTransistors(SiCMOSFETs)–Part4:HighTemperatureReverseBias”

摘要

本报告旨在系统阐述《碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管(S

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