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《GBT 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

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  • 2026-02-04 发布于浙江
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《GBT 42968.3-2025 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分：大电流注入（BCI）法》练习题试卷及参考答案.pdf

    《GB/T42968.3-2025集成电路电磁抗扰度测量

    第3部分：大电流注入（BCI）法》练习题试卷

    一、单项选择题（每题2分，共15题）

    1.本文件GB/T42968.3—2025的中文标题是：

    A.集成电路电磁兼容性试验和测量技术

    B.集成电路电磁敏感性测量第3部分：大电流注入法

    C.集成电路电磁抗扰度测量第3部分：大电流注入(BCI)法

    D.半导体器件抗扰度测量大电流注入法

    2.根据“1范围”，本文件描述的BCI法主要用于测量哪类集成电路的抗扰度？

    A.所有类型的集成电路

    B.仅适用

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