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《JBT 5836.1-2025快恢复二极管 第1部分：单管》专题研究报告：与前瞻展望.pptx

《JBT 5836.1-2025快恢复二极管 第1部分：单管》专题研究报告：与前瞻展望.pptx

    《JB/T5836.1–2025快恢复二极管第1部分：单管》专题研究报告：与前瞻展望;

    目录

    一

    、

    从硅到碳化硅：快恢复二极管技术演进与标准制定的产业逻辑剖析二、

    不止于“快”：新标准如何重新定义FRD性能核心参数与测试方法的专家视角三、

    热设计革命：结温、热阻与功率循环要求对器件可靠性的根本性影响四、

    封装定生死：标准中封装形式、结构与材料规范如何塑造未来产品形态五、

    安全“护城河”：过压、过流与短路耐受能力条款的解析与应用边界;;;;;迈向2028：从JB/T5836.1–2025看中国功率半导体产业链的整合与升级路径

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