十五五AI芯片的可测性设计与自动化测试向量生成，降低测试成本的关键投资.pptxVIP

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目录

一、前瞻布局与战略价值：为什么十五五期间AI芯片可测性设计成为决定产业竞争力的核心命脉与关键投资领域

二、专家深度剖析：AI芯片架构演进与可测性设计范式的根本性变革，如何从源头重塑测试成本与质量平衡

三、十五五技术前沿聚焦：面向3D集成、Chiplet与先进封装的AI芯片，其可测性设计面临的全新挑战与创新解决方案

四、自动化测试向量生成的智能化革命：机器学习与形式化验证如何驱动测试效率的质变，实现覆盖率与成本的极致优化

五、构建全生命周期可测性：从RTL到硅后，贯穿AI芯片设计、制造、封装、系统集成的协同可测性方法论与实践

六、测试成本模型深度解构：量化分析