《GBT+14140-2025 半导体晶片直径测试方法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

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  • 2026-02-09 发布于浙江
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《GBT+14140-2025 半导体晶片直径测试方法》练习题试卷及参考答案.pdf

《GBT+14140-2025半导体晶片直径测试方法》练习

题试卷

一、单选题(共15题,每题2分,共30分)

1.GB/T14140—2025《半导体晶片直径测试方法》替代了哪两个旧版本标准?

A.GB/T14140—2000和GB/T30866—2010

B.GB/T14140—2009和GB/T30866—2014

C.GB/T14140—1993和GB/T30866—2000

D.GB/T14140—2015和GB/T30866—2018

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