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《GBT+19444-2025 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法》练习题试卷及参考答案.pdfVIP

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  • 2026-02-09 发布于浙江
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《GBT+19444-2025 硅片氧沉淀特性的测试 间隙氧含量减少法》练习题试卷及参考答案.pdf

    《GBT+19444-2025硅片氧沉淀特性的测试间隙氧

    含量减少法》练习题试卷及参考答案

    一、单选题（共15题，每题2分，共30分）

    1.GB/T19444—2025标准主要适用于以下哪种材料的测试？

    A.多晶硅锭

    B.特定电阻率范围的n型和p型硅单晶抛光片

    C.砷化镓晶片

    D.二氧化硅薄膜

    2.该标准替代了哪个旧版本？

    A.GB/T19444—1995

    B.GB/T19444—2004

    C.GB/T19444—2010

    D.GB/T19444—2016

    3.标准中，“间隙氧含量减

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