宣贯培训(2026年)《GBT 39145-2020硅片表面金属元素含量的测定 电感耦合等离子体质谱法》.pptxVIP

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目录

一、深度剖析ICP-MS原理与技术前沿：解锁GB/T39145-2020高灵敏检测硅片表面金属的底层逻辑与未来技术演进路径专家视角

二、硅片“表面清洁度”密码破译：专家深度解读GB/T39145-2020如何精准定义采样、制样与样品前处理全流程操作禁区与核心要点

三、标准核心试剂与材料选择指南：前瞻性探讨高纯试剂、标准物质及实验室环境控制对测定结果准确性的颠覆性影响与风险管控

四、仪器校准与性能验证全攻略：结合GB/T39145-2020与行业趋势，(2026年)深度解析ICP-MS调谐、校准策略及长期稳定性保障方案

五、从样品溶液到数据报告：逐步拆解标